缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010907198.7

申请日：

2020-09-02

公开(公告)号：

CN111812105A

公开(公告)日：

2020-10-23

发明(设计)人：

艾立夫赵东峰董立超刘宝山刘艺朱春霖彭旭

申请人：

申请人地址：

261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2147

代理机构：

深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287

代理人：

薛福玲

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01N 21/88 登记生效日:20221116 变更事项:专利权人变更前权利人:歌尔股份有限公司变更后权利人:歌尔光学科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:261031 山东省潍坊市高新技术产业开发区东方路268号变更后权利人:261031 山东省潍坊市高新区清池街道永春社区惠贤路3999号歌尔光电产业园三期1号厂房
2020-10-23	公开	公开
2020-11-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20200902
2020-12-08	授权	授权

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质 [P].

朱姗姗 ;

彭奕文 ;

王佳 .

中国专利 :CN111507974A ,2020-08-07

[2]

缺陷检测方法、装置及计算机存储介质 [P].

谢文蛟 ;

莫小龙 .

中国专利 :CN120685677A ,2025-09-23

[3]

缺陷检测方法、装置及计算机存储介质 [P].

申云鹏 .

中国专利 :CN114663365A ,2022-06-24

[4]

铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

郭敏 .

中国专利 :CN114119466B ,2025-02-11

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

孙明珊 ;

暴天鹏 ;

吴立威 .

中国专利 :CN111986174A ,2020-11-24

[6]

铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

郭敏 .

中国专利 :CN114119466A ,2022-03-01

[7]

图像处理及缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P].

袁光宇 ;

张建国 ;

陈大兵 ;

杨立恒 ;

刘建军 ;

胡轶宁 .

中国专利 :CN110120037B ,2019-08-13

[8]

缺陷检测方法、计算机装置及存储介质 [P].

林子甄 ;

蔡东佐 ;

郭锦斌 .

中国专利 :CN115456929A ,2022-12-09

[9]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王楠 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31

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