学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
图像处理及缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910354636.9
申请日
:
2019-04-29
公开(公告)号
:
CN110120037B
公开(公告)日
:
2019-08-13
发明(设计)人
:
袁光宇
张建国
陈大兵
杨立恒
刘建军
胡轶宁
申请人
:
申请人地址
:
210000 江苏省南京市江宁区帕威尔路1号
IPC主分类号
:
G06T700
IPC分类号
:
代理机构
:
南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204
代理人
:
饶欣
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-08-13
公开
公开
2019-09-06
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20190429
2021-07-13
授权
授权
共 50 条
[1]
缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质
[P].
朱姗姗
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱姗姗
;
彭奕文
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭奕文
;
王佳
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王佳
.
中国专利
:CN111507974A
,2020-08-07
[2]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质
[P].
艾立夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
艾立夫
;
赵东峰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
赵东峰
;
董立超
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
董立超
;
刘宝山
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘宝山
;
刘艺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘艺
;
朱春霖
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
朱春霖
;
彭旭
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彭旭
.
中国专利
:CN111812105A
,2020-10-23
[3]
缺陷检测方法、装置及计算机存储介质
[P].
谢文蛟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
蓝思科技股份有限公司
蓝思科技股份有限公司
谢文蛟
;
莫小龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
蓝思科技股份有限公司
蓝思科技股份有限公司
莫小龙
.
中国专利
:CN120685677A
,2025-09-23
[4]
缺陷检测方法、装置及计算机存储介质
[P].
申云鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
申云鹏
.
中国专利
:CN114663365A
,2022-06-24
[5]
碳纤维复合芯导线射线图像处理、缺陷检测以及存储介质
[P].
陈大兵
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈大兵
;
姜海波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
姜海波
;
袁光宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
袁光宇
;
张建国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张建国
;
杨立恒
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨立恒
;
刘建军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘建军
.
中国专利
:CN110111309B
,2019-08-09
[6]
图像缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
[P].
许梓堆
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思谋科技有限公司
上海思谋科技有限公司
许梓堆
;
刘枢
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思谋科技有限公司
上海思谋科技有限公司
刘枢
;
吕江波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思谋科技有限公司
上海思谋科技有限公司
吕江波
;
沈小勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海思谋科技有限公司
上海思谋科技有限公司
沈小勇
.
中国专利
:CN119579982A
,2025-03-07
[7]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质
[P].
郭一川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
郭一川
;
路元元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
路元元
;
李昭月
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
李昭月
;
柴栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
柴栋
;
王洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
京东方科技集团股份有限公司
京东方科技集团股份有限公司
王洪
.
中国专利
:CN113646801B
,2024-04-02
[8]
缺陷图像的缺陷检测方法、装置及计算机可读存储介质
[P].
郭一川
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
郭一川
;
路元元
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
路元元
;
李昭月
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李昭月
;
柴栋
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
柴栋
;
王洪
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王洪
.
中国专利
:CN113646801A
,2021-11-12
[9]
铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质
[P].
郭敏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
武汉禾富信科技有限公司
武汉禾富信科技有限公司
郭敏
.
中国专利
:CN114119466B
,2025-02-11
[10]
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机存储介质
[P].
孙明珊
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
孙明珊
;
暴天鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
暴天鹏
;
吴立威
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吴立威
.
中国专利
:CN111986174A
,2020-11-24
←
1
2
3
4
5
→