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铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111177666.0
申请日：
2021-10-09
公开(公告)号：
CN114119466B
公开(公告)日：
2025-02-11
发明(设计)人：
郭敏
申请人：
武汉禾富信科技有限公司
申请人地址：
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新四路40号葛洲坝太阳城2栋2层01室
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/73 G06V10/56 G06V10/25 G06V10/764
代理机构：
北京恒博知识产权代理有限公司 11528
代理人：
张晓芳
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 南京市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-02-11 授权 授权
共 50 条
[1]
铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P]. 
郭敏 .
中国专利 :CN114119466A ,2022-03-01
[2]
铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
朱开星 ;
彭海林 .
中国专利 :CN119555697A ,2025-03-04
[3]
铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
朱开星 ;
彭海林 .
中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08
[4]
钢表面缺陷检测方法、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
梁思飞 ;
李媛媛 .
中国专利 :CN119887688A ,2025-04-25
[5]
缺陷检测方法、装置、缺陷检测设备及计算机存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111507974A ,2020-08-07
[6]
缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P]. 
金侠挺 ;
郑佳 ;
潘华东 .
中国专利 :CN112541884A ,2021-03-23
[7]
缺陷检测方法及设备、计算机可读存储介质 [P]. 
金侠挺 ;
郑佳 ;
潘华东 .
中国专利 :CN112541884B ,2024-10-25
[8]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P]. 
艾立夫 ;
赵东峰 ;
董立超 ;
刘宝山 ;
刘艺 ;
朱春霖 ;
彭旭 .
中国专利 :CN111812105A ,2020-10-23
[9]
表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
江志坚 ;
王劦 ;
吴小彬 .
中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05
[10]
玻璃表面缺陷检测方法、装置和计算机可读存储介质 [P]. 
姜枞聪 .
中国专利 :CN111598847A ,2020-08-28
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