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铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411593576.3
申请日：
2024-11-08
公开(公告)号：
CN119555697A
公开(公告)日：
2025-03-04
发明(设计)人：
朱开星 彭海林
申请人：
深圳洪瑞微电子科技有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区民治街道民强社区宝山时代大厦3901
IPC主分类号：
G01N21/892
IPC分类号：
G01N21/01
代理机构：
深圳壹舟知识产权代理事务所(普通合伙) 44331
代理人：
仉玉新
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-04 公开 公开
2025-08-08 授权 授权
2025-03-21 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/892申请日:20241108
共 50 条
[1]
铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P]. 
朱开星 ;
彭海林 .
中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08
[2]
滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P]. 
马跃洋 ;
尹青青 ;
刘丙才 ;
朱学亮 ;
王红军 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN119784709B ,2025-10-03
[3]
滚子表面缺陷检测方法、计算机设备和存储介质 [P]. 
马跃洋 ;
尹青青 ;
刘丙才 ;
朱学亮 ;
王红军 ;
田爱玲 .
中国专利 :CN119784709A ,2025-04-08
[4]
表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P]. 
江志坚 ;
王劦 ;
吴小彬 .
中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05
[5]
缺陷检测方法及装置、计算机设备、存储介质 [P]. 
谭毅 ;
胡建强 ;
马超 ;
唐博 ;
束家龙 ;
雷屹坤 .
中国专利 :CN119130955A ,2024-12-13
[6]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
冯嘉佩 ;
陈鹏光 ;
徐开元 ;
刘枢 .
中国专利 :CN120931612A ,2025-11-11
[7]
缺陷检测方法、装置、存储介质、计算机设备及检测设备 [P]. 
宋梦琦 ;
罗亨亮 ;
张武杰 .
中国专利 :CN119648634A ,2025-03-18
[8]
表面缺陷检测方法、装置、系统、存储介质及计算机设备 [P]. 
姜星旭 ;
高崇 ;
马科 ;
杨升 ;
黄鑫 ;
李欣 ;
刘贞山 ;
赵丕植 .
中国专利 :CN117388261A ,2024-01-12
[9]
缺陷检测方法及系统、存储介质、计算机设备 [P]. 
张武杰 .
中国专利 :CN119985489A ,2025-05-13
[10]
铝箔表面缺陷检测方法、装置、设备及计算机存储介质 [P]. 
郭敏 .
中国专利 :CN114119466B ,2025-02-11
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