表面缺陷检测方法、装置、系统、存储介质及计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311370398.3

申请日：

2023-10-20

公开(公告)号：

CN117388261A

公开(公告)日：

2024-01-12

发明(设计)人：

姜星旭高崇马科杨升黄鑫李欣刘贞山赵丕植

申请人：

中铝材料应用研究院有限公司中铝河南洛阳铝加工有限公司

申请人地址：

102209 北京市昌平区未来科学城南区

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01J3/46 G01N21/25 G01B11/28 G06T7/00 G06T7/62 G06V10/28 G06V10/764

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

褚敏

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-12	公开	公开
2024-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20231020

共 50 条

[1]

表面缺陷检测方法及装置、计算机设备和存储介质 [P].

江志坚 ;

王劦 ;

吴小彬 .

中国专利 :CN117828352A ,2024-04-05

[2]

铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697A ,2025-03-04

[3]

铜箔表面缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

朱开星 ;

彭海林 .

中国专利 :CN119555697B ,2025-08-08

[4]

芯片表面缺陷检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

任获荣 ;

熊振锋 ;

李志武 ;

詹劲松 ;

吕银飞 ;

高雪峰 .

中国专利 :CN113554630A ,2021-10-26

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

冯嘉佩 ;

陈鹏光 ;

徐开元 ;

刘枢 .

中国专利 :CN120931612A ,2025-11-11

[6]

PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李泉洲 ;

胡宁 ;

蒋诗新 ;

刘振国 ;

郑清文 .

中国专利 :CN117557538A ,2024-02-13

[7]

钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李潭 ;

宋伟宁 ;

陈南江 ;

高方方 ;

吴守栾 ;

宋超 ;

王琪 ;

林燕文 ;

殷润民 .

中国专利 :CN120726028A ,2025-09-30

[8]

钢铁表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质 [P].

李潭 ;

宋伟宁 ;

陈南江 ;

高方方 ;

吴守栾 ;

宋超 ;

王琪 ;

林燕文 ;

殷润民 .

中国专利 :CN120726028B ,2025-10-31

[9]

缺陷检测方法及系统、存储介质、计算机设备 [P].

张武杰 .

中国专利 :CN119985489A ,2025-05-13

[10]

缺陷检测方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

陈亮 ;

杜思意 ;

杨凯 ;

黄帅 ;

徐睿 ;

张鹏 ;

张雄 ;

周盛华 ;

周鹏威 ;

沈洋 ;

李方浩 ;

王志强 .

中国专利 :CN121213556A ,2025-12-26

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