三维测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410080633.4

申请日：

2004-09-29

公开(公告)号：

CN100447526C

公开(公告)日：

2005-05-11

发明(设计)人：

梅村信行在间尚洋山崎耕平

申请人：

申请人地址：

日本国爱知县

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

代理机构：

北京三幸商标专利事务所

代理人：

刘激扬

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2005-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-05-11	公开	公开
2008-12-31	授权	授权

共 50 条

[1]

三维测定装置 [P].

间宫高弘 ;

二村伊久雄 .

中国专利 :CN100491909C ,2005-01-12

[2]

三维测定装置和三维测定方法 [P].

付星斗 ;

诹访正树 ;

长谷川友纪 .

中国专利 :CN109690241B ,2019-04-26

[3]

三维测定装置、滤色光栅条纹片及照明机构 [P].

间宫高弘 .

中国专利 :CN1564929A ,2005-01-12

[4]

三维测定装置、三维测定方法以及程序 [P].

松本慎也 ;

大西康裕 .

中国专利 :CN111566440A ,2020-08-21

[5]

三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质 [P].

付星斗 ;

清水隆史 .

中国专利 :CN111566439B ,2020-08-21

[6]

三维形状测定装置 [P].

农宗千典 ;

乡司裕介 ;

坂东贤也 ;

野村昭 ;

山田正彰 .

中国专利 :CN207395678U ,2018-05-22

[7]

三维形状测定装置以及三维形状测定方法 [P].

宫田薰 .

中国专利 :CN111829456A ,2020-10-27

[8]

三维形状测定装置以及三维形状测定方法 [P].

宫田薰 .

日本专利 :CN111829456B ,2024-12-27

[9]

三维测定装置 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112639395A ,2021-04-09

[10]

三维测定装置和基板检查装置 [P].

梅村信行 .

中国专利 :CN102221344A ,2011-10-19

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