三维测定装置和三维测定方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201780054883.6

申请日：

2017-09-22

公开(公告)号：

CN109690241B

公开(公告)日：

2019-04-26

发明(设计)人：

付星斗诹访正树长谷川友纪

申请人：

申请人地址：

日本国京都府京都市

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

G06T700 G06T760

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

马建军;邓毅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-05-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20170922
2020-12-15	授权	授权
2019-04-26	公开	公开

共 50 条

[1]

三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质 [P].

付星斗 ;

清水隆史 .

中国专利 :CN111566439B ,2020-08-21

[2]

三维测定装置、三维测定方法以及程序 [P].

松本慎也 ;

大西康裕 .

中国专利 :CN111566440A ,2020-08-21

[3]

三维形状测定装置以及三维形状测定方法 [P].

宫田薰 .

中国专利 :CN111829456A ,2020-10-27

[4]

三维形状测定装置以及三维形状测定方法 [P].

宫田薰 .

日本专利 :CN111829456B ,2024-12-27

[5]

三维测定装置 [P].

间宫高弘 ;

二村伊久雄 .

中国专利 :CN100491909C ,2005-01-12

[6]

三维测定装置 [P].

梅村信行 ;

在间尚洋 ;

山崎耕平 .

中国专利 :CN100447526C ,2005-05-11

[7]

三维测定装置 [P].

田端伸章 .

中国专利 :CN112639395A ,2021-04-09

[8]

三维形状测定装置以及三维形状测定方法 [P].

小仓隆志 ;

王肖南 .

日本专利 :CN118922684A ,2024-11-08

[9]

三维测定装置、三维测定方法以及基板的制造方法 [P].

杉浦崇正 .

中国专利 :CN104515477A ,2015-04-15

[10]

三维形状测定装置 [P].

农宗千典 ;

乡司裕介 ;

坂东贤也 ;

野村昭 ;

山田正彰 .

中国专利 :CN207395678U ,2018-05-22

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