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三维测定装置、三维测定方法以及程序
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201980007538.6
申请日
:
2019-02-06
公开(公告)号
:
CN111566440A
公开(公告)日
:
2020-08-21
发明(设计)人
:
松本慎也
大西康裕
申请人
:
申请人地址
:
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地
IPC主分类号
:
G01B1125
IPC分类号
:
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
马爽;臧建明
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-15
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20190206
2020-08-21
公开
公开
2021-09-21
授权
授权
共 50 条
[1]
三维测定装置、三维测定方法以及三维测定存储介质
[P].
付星斗
论文数:
0
引用数:
0
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0
付星斗
;
清水隆史
论文数:
0
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0
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0
清水隆史
.
中国专利
:CN111566439B
,2020-08-21
[2]
三维测定装置和三维测定方法
[P].
付星斗
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0
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0
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付星斗
;
诹访正树
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0
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诹访正树
;
长谷川友纪
论文数:
0
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0
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0
长谷川友纪
.
中国专利
:CN109690241B
,2019-04-26
[3]
三维形状测定装置以及三维形状测定方法
[P].
宫田薰
论文数:
0
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0
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0
宫田薰
.
中国专利
:CN111829456A
,2020-10-27
[4]
三维形状测定装置以及三维形状测定方法
[P].
宫田薰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
株式会社三丰
株式会社三丰
宫田薰
.
日本专利
:CN111829456B
,2024-12-27
[5]
三维形状测定装置、三维形状测定方法以及程序
[P].
西贵行
论文数:
0
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0
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0
西贵行
.
中国专利
:CN113227707A
,2021-08-06
[6]
三维形状测定装置以及三维形状测定方法
[P].
小仓隆志
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机构:
株式会社东京精密
株式会社东京精密
小仓隆志
;
王肖南
论文数:
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机构:
株式会社东京精密
株式会社东京精密
王肖南
.
日本专利
:CN118922684A
,2024-11-08
[7]
三维测定装置、三维测定方法以及基板的制造方法
[P].
杉浦崇正
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0
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0
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0
杉浦崇正
.
中国专利
:CN104515477A
,2015-04-15
[8]
三维测定装置
[P].
间宫高弘
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0
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间宫高弘
;
二村伊久雄
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0
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二村伊久雄
.
中国专利
:CN100491909C
,2005-01-12
[9]
三维测定装置、三维测定方法、程序及基板的制造方法
[P].
井户胜也
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井户胜也
;
千贺大辅
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0
千贺大辅
.
中国专利
:CN103592307B
,2014-02-19
[10]
三维测定装置
[P].
梅村信行
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梅村信行
;
在间尚洋
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在间尚洋
;
山崎耕平
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山崎耕平
.
中国专利
:CN100447526C
,2005-05-11
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