BIST的测试电路和测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410854937.5

申请日：

2014-12-31

公开(公告)号：

CN104535920B

公开(公告)日：

2015-04-22

发明(设计)人：

邹定锴

申请人：

申请人地址：

211899 江苏省南京市浦口区江浦街道天浦路28号1号楼5楼505室

IPC主分类号：

G01R313187

IPC分类号：

代理机构：

北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205

代理人：

杨贝贝;黄健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-05-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101609914397 IPC(主分类):G01R 31/3187 专利申请号:2014108549375 申请日:20141231
2018-07-13	授权	授权
2015-04-22	公开	公开

共 50 条

[1]

测试电路和测试系统 [P].

曹龙 ;

沙祥彪 ;

晏显栋 ;

吕厚登 ;

周红胜 .

中国专利 :CN114460486A ,2022-05-10

[2]

测试电路、测试方法和包括测试电路的计算系统 [P].

陈默 ;

范志军 ;

刘建波 ;

许超 .

中国专利 :CN114764118A ,2022-07-19

[3]

测试电路及基于测试电路的测试方法 [P].

张孝 ;

郑东瑾 ;

马卓 ;

窦强 ;

刘超 .

中国专利 :CN119224540A ,2024-12-31

[4]

内核测试方法和内核测试电路 [P].

任建国 ;

邱泓瑜 ;

万政典 ;

叶朝阳 ;

陈伟廉 ;

苏曼勻 ;

许泽敏 ;

薛文皓 ;

刘韦权 .

:CN118796619A ,2024-10-18

[5]

测试电路和测试系统 [P].

李德冲 ;

黄晨 .

中国专利 :CN119758159A ,2025-04-04

[6]

测试电路和测试方法 [P].

佐伯穣 .

中国专利 :CN101339226A ,2009-01-07

[7]

测试电路和包括测试电路的计算系统 [P].

陈默 ;

范志军 ;

刘建波 ;

许超 .

中国专利 :CN215180689U ,2021-12-14

[8]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

李升根 .

中国专利 :CN113189470A ,2021-07-30

[9]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

陈晶晶 ;

曾雪松 ;

李若园 .

中国专利 :CN116027167B ,2025-10-24

[10]

测试电路、测试系统和测试方法 [P].

李升根 .

中国专利 :CN113189470B ,2024-11-29

← 1 2 3 4 5 →