用于测量物体的表面形貌的方法和系统

被引：0

申请号：

CN202180034863.9

申请日：

2021-05-12

公开(公告)号：

CN115698626A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

丹尼尔·布布利兹皮特·韦斯特法尔

申请人：

申请人地址：

德国上科亨

IPC主分类号：

G01B9021

IPC分类号：

G01B1124

代理机构：

北京市创世宏景专利商标代理有限责任公司 11493

代理人：

崔永华

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

用于测量物体的表面形貌的方法和装置 [P].

Z·佐贝尼卡 ;

J·A·登博艾尔 ;

P·F·W·J·邓达斯 ;

M·波平丘克 ;

V·特罗格里奇 .

:CN120604173A ,2025-09-05

[2]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

美国专利 :CN111467062B ,2024-12-06

[3]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

中国专利 :CN111467062A ,2020-07-31

[4]

用于光学测量表面形貌的装置和方法 [P].

优素福·阿缇亚 ;

塔勒·维科尔 .

中国专利 :CN106794052B ,2017-05-31

[5]

用于测量表面形貌的设备和方法以及校准方法 [P].

L.奥姆洛尔 ;

C.格拉泽纳普 .

中国专利 :CN109416245B ,2019-03-01

[6]

用于测量表面形貌的设备和方法以及校准方法 [P].

L.奥姆洛尔 ;

C.格拉泽纳普 .

中国专利 :CN111595269B ,2020-08-28

[7]

测量物体的方法和系统 [P].

史蒂文·R·海亚希 ;

李忠国 ;

凯文·G·哈丁 ;

郑建明 ;

霍华德·P·韦弗 ;

杜晓明 ;

陈田 .

中国专利 :CN101611291A ,2009-12-23

[8]

用于测量物体的光学特性的方法和系统 [P].

瓦格纳·塔瓦雷斯·布欧诺 ;

凯尚·辛格 ;

安德鲁·福布斯 ;

安吉拉·达德利 .

:CN118215834A ,2024-06-18

[9]

用于测量物体的高度轮廓的装置和方法 [P].

贝恩德·斯罗卡 .

中国专利 :CN114144635A ,2022-03-04

[10]

用于测量物体的高度轮廓的装置和方法 [P].

贝恩德·斯罗卡 .

德国专利 :CN114144635B ,2025-04-25

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