测量物体的方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200780051586.2

申请日：

2007-11-30

公开(公告)号：

CN101611291A

公开(公告)日：

2009-12-23

发明(设计)人：

史蒂文·R·海亚希李忠国凯文·G·哈丁郑建明霍华德·P·韦弗杜晓明陈田

申请人：

申请人地址：

美国纽约州

IPC主分类号：

G01B1108

IPC分类号：

G01B1124 G01B1100

代理机构：

北京市柳沈律师事务所

代理人：

封新琴

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-01-14	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101595904815 IPC(主分类):G01B 11/08 专利号:ZL2007800515862 申请日:20071130 授权公告日:20120418 终止日期:20131130
2012-04-18	授权	授权
2009-12-23	公开	公开
2010-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

测量物体凸纹的方法和系统 [P].

A·考奥贝 ;

M·坎逖恩 ;

A·尼克蒂恩 .

中国专利 :CN1181313C ,2002-10-16

[2]

用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P].

Y·贝拉茨基 ;

Y·海尼克 .

中国专利 :CN115053168A ,2022-09-13

[3]

用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P].

Y·贝拉茨基 ;

Y·海尼克 .

:CN115053168B ,2024-09-06

[4]

用于测量物体上的方位的设备、方法和系统 [P].

阿诺德·马克·朱恩斯马 ;

德尼斯·凡威仁 ;

马里奥·约瑟夫斯·德比尔 .

中国专利 :CN115151788A ,2022-10-04

[5]

实时测量物体变形的方法和系统 [P].

高瞻 ;

秦洁 ;

张小琼 .

中国专利 :CN105371777B ,2016-03-02

[6]

用于测量可运动的物体的方法和测量系统 [P].

T·米勒 ;

T·哈施克 .

中国专利 :CN108136460A ,2018-06-08

[7]

用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 [P].

C·弗兰克 ;

K·T·舒 ;

H·斯考拉 .

德国专利 :CN118936338A ,2024-11-12

[8]

用于测量物体厚度的方法和装置 [P].

Y·波利什楚克 ;

R·W·泰特 ;

W·J·小亨德里克斯 ;

M·F·斯特伦 .

中国专利 :CN105783693B ,2016-07-20

[9]

用于测量物体颜色的方法和设备 [P].

弗兰克·埃内贝勒 .

中国专利 :CN104272071A ,2015-01-07

[10]

测量物体尺寸的设备、方法和装置 [P].

赵刚 ;

邱鹏 .

中国专利 :CN106152947A ,2016-11-23

← 1 2 3 4 5 →