用于测量物体上的方位的设备、方法和系统

被引：0

申请号：

CN202180015845.6

申请日：

2021-02-18

公开(公告)号：

CN115151788A

公开(公告)日：

2022-10-04

发明(设计)人：

阿诺德·马克·朱恩斯马德尼斯·凡威仁马里奥·约瑟夫斯·德比尔

申请人：

申请人地址：

荷兰莱德斯亨丹

IPC主分类号：

G01C1106

IPC分类号：

G01B1100 G01B1116 G01C1500 G01S516 G01C1504 G01C1506

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

文洁;张启程

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-10-04	公开	公开
2022-12-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 11/06 申请日:20210218

共 50 条

[1]

用于测量物体颜色的方法和设备 [P].

弗兰克·埃内贝勒 .

中国专利 :CN104272071A ,2015-01-07

[2]

测量物体的方法和系统 [P].

史蒂文·R·海亚希 ;

李忠国 ;

凯文·G·哈丁 ;

郑建明 ;

霍华德·P·韦弗 ;

杜晓明 ;

陈田 .

中国专利 :CN101611291A ,2009-12-23

[3]

测量物体位置和方位的方法 [P].

喻应东 .

中国专利 :CN102297693B ,2011-12-28

[4]

用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P].

Y·贝拉茨基 ;

Y·海尼克 .

中国专利 :CN115053168A ,2022-09-13

[5]

用于物体的光学成像和测量的系统和方法 [P].

Y·贝拉茨基 ;

Y·海尼克 .

:CN115053168B ,2024-09-06

[6]

用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 [P].

C·弗兰克 ;

K·T·舒 ;

H·斯考拉 .

德国专利 :CN118936338A ,2024-11-12

[7]

用于测量可运动的物体的方法和测量系统 [P].

T·米勒 ;

T·哈施克 .

中国专利 :CN108136460A ,2018-06-08

[8]

用于测量物体厚度的方法和装置 [P].

Y·波利什楚克 ;

R·W·泰特 ;

W·J·小亨德里克斯 ;

M·F·斯特伦 .

中国专利 :CN105783693B ,2016-07-20

[9]

用于确定测量物体的空间性质的方法和测量机 [P].

A.戈纳迈耶 ;

P.杰斯特 ;

F.威杜勒 .

中国专利 :CN106403839A ,2017-02-15

[10]

测量物体尺寸的设备、方法和装置 [P].

赵刚 ;

邱鹏 .

中国专利 :CN106152947A ,2016-11-23

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