用于测量物体颜色的方法和设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201380009854.X

申请日：

2013-02-14

公开(公告)号：

CN104272071A

公开(公告)日：

2015-01-07

发明(设计)人：

弗兰克·埃内贝勒

申请人：

申请人地址：

法国巴黎

IPC主分类号：

G01J350

IPC分类号：

G01J302 G01J312

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

曾贤伟;杨继平

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-08-24	授权	授权
2015-01-07	公开	公开
2015-02-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101596971710 IPC(主分类):G01J 3/50 专利申请号:201380009854X 申请日:20130214

共 50 条

[1]

用于测量物体上的方位的设备、方法和系统 [P].

阿诺德·马克·朱恩斯马 ;

德尼斯·凡威仁 ;

马里奥·约瑟夫斯·德比尔 .

中国专利 :CN115151788A ,2022-10-04

[2]

用于测量物体厚度的方法和装置 [P].

Y·波利什楚克 ;

R·W·泰特 ;

W·J·小亨德里克斯 ;

M·F·斯特伦 .

中国专利 :CN105783693B ,2016-07-20

[3]

用于测量物体的几何参数的测量设备和方法 [P].

C·弗兰克 ;

K·T·舒 ;

H·斯考拉 .

德国专利 :CN118936338A ,2024-11-12

[4]

测量物体尺寸的设备、方法和装置 [P].

赵刚 ;

邱鹏 .

中国专利 :CN106152947A ,2016-11-23

[5]

用于测量物体的测量设备 [P].

M·弗格尔 ;

R·里奇特 ;

T·梅茨 ;

A·格利姆 ;

T·克卢达斯 ;

U·纳图拉 .

中国专利 :CN111060066B ,2020-04-24

[6]

用于测量物体的层厚的方法和设备 [P].

本杰明·利陶 ;

乔凡尼·肖伯 ;

斯蒂芬·克雷姆林 .

中国专利 :CN110914635B ,2020-03-24

[7]

用于测量物体的设备 [P].

彼得·肯尼思·赫利尔 .

中国专利 :CN102607492A ,2012-07-25

[8]

测量物体的方法和系统 [P].

史蒂文·R·海亚希 ;

李忠国 ;

凯文·G·哈丁 ;

郑建明 ;

霍华德·P·韦弗 ;

杜晓明 ;

陈田 .

中国专利 :CN101611291A ,2009-12-23

[9]

用于测量物体的光学特性的设备 [P].

伯恩德特·沃姆 ;

斯蒂芬·施密特 ;

克劳迪娅·格舍博特 ;

克里斯托夫·德尼茨基 .

中国专利 :CN103415243A ,2013-11-27

[10]

用于确定测量测量物体的测量策略的方法和设备及程序 [P].

R·黑林 ;

G·哈斯 ;

H·布克斯 .

德国专利 :CN119022847A ,2024-11-26

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