测试集成电路的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01101744.9

申请日：

2001-01-23

公开(公告)号：

CN1309422A

公开(公告)日：

2001-08-22

发明(设计)人：

丘昂·V·法姆保罗·J.·胡普尔马克·A.·米勒罗斯·A.·阿拉斯帕卡赛·马沙尔

申请人：

申请人地址：

美国伊利诺斯

IPC主分类号：

H01L2166

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利商标事务所

代理人：

付建军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2001-08-22	公开	公开
2020-01-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/66 申请日:20010123 授权公告日:20040915 终止日期:20190123
2003-03-19	实质审查的生效	实质审查的生效
2004-09-22	专利申请权、专利权的转移专利权的转移	专利申请权、专利权的转移专利权的转移变更事项:专利权人变更前权利人:摩托罗拉公司变更后权利人:自由度半导体公司变更事项:地址变更前权利人:美国伊利诺斯变更后权利人:美国得克萨斯登记生效日:20040813
2004-09-15	授权	授权
2017-11-14	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/66 变更事项:专利权人变更前:飞思卡尔半导体公司变更后:恩智浦美国有限公司变更事项:地址变更前:美国得克萨斯变更后:美国得克萨斯
2013-07-31	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101639828475 IPC(主分类):H01L 21/66 专利号:ZL011017449 变更事项:专利权人变更前:自由度半导体公司变更后:飞思卡尔半导体公司变更事项:地址变更前:美国得克萨斯变更后:美国得克萨斯

共 50 条

[1]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[2]

集成电路测试方法和采用该测试方法的集成电路测试装置 [P].

桥本好弘 .

中国专利 :CN1244925A ,2000-02-16

[3]

集成电路测试方法和装置 [P].

古田胜信 .

中国专利 :CN1206115A ,1999-01-27

[4]

集成电路测试治具和集成电路测试装置 [P].

王国华 ;

谢伟 .

中国专利 :CN205193228U ,2016-04-27

[5]

测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[6]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

I·布尔斯坦 .

中国专利 :CN102818983A ,2012-12-12

[7]

一种集成电路和集成电路的测试方法 [P].

何军 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN106959411A ,2017-07-18

[8]

集成电路测试的管理方法、装置和系统 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN110830319A ,2020-02-21

[9]

集成电路测试连接装置和方法 [P].

杜润飞 ;

关赛新 ;

蔡荣军 .

中国专利 :CN103149388A ,2013-06-12

[10]

远程集成电路测试方法和装置 [P].

阿龙·M·沃兹 .

中国专利 :CN100549711C ,2006-10-04

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