用于测试集成电路的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210160839.2

申请日：

2012-05-16

公开(公告)号：

CN102818983A

公开(公告)日：

2012-12-12

发明(设计)人：

I·布尔斯坦

申请人：

申请人地址：

巴巴多斯圣米加勒

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

酆迅;罗世娜

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-12	公开	公开
2020-05-01	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20120516 授权公告日:20170503 终止日期:20190516
2014-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582991801 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2012101608392 申请日:20120516
2017-05-03	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测试集成电路的方法和设备 [P].

I·鲍尔斯泰恩 .

中国专利 :CN102435937B ,2012-05-02

[2]

测试集成电路的方法和装置 [P].

丘昂·V·法姆 ;

保罗·J.·胡普尔 ;

马克·A.·米勒 ;

罗斯·A.·阿拉斯帕 ;

卡赛·马沙尔 .

中国专利 :CN1309422A ,2001-08-22

[3]

集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

[4]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

O·皮雷恩 .

中国专利 :CN1132554A ,1996-10-02

[5]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

吴嘉洛 ;

M·雅各布斯 ;

V·C·K·吴 ;

M·C·刘 .

中国专利 :CN110118923A ,2019-08-13

[6]

测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[7]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[8]

集成电路及用于测试集成电路的方法 [P].

克莱夫·大卫·比特尔斯通 .

中国专利 :CN104777414A ,2015-07-15

[9]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[10]

用于测试集成电路的测试方法和测试装置 [P].

R·布赫纳 ;

C·埃布纳 ;

S·莫泽尔 ;

P·劳舍尔 ;

A·福伊格特莱恩德 .

中国专利 :CN1965242A ,2007-05-16

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