测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510359981.7

申请日：

2025-03-25

公开(公告)号：

CN120409384A

公开(公告)日：

2025-08-01

发明(设计)人：

方志强汪瑶张伦耿锐

申请人：

深圳曦华科技有限公司安徽曦合微电子有限公司上海水木蓝鲸半导体技术有限公司水木蓝鲸（南宁）半导体科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路1号A栋201室（入驻深圳市前海商务秘书有限公司）

IPC主分类号：

G06F30/333

IPC分类号：

G06F30/3308 G06F11/267

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郑可洋

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市市辖区

引用

下载

共 50 条

[1]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[2]

集成电路的测试电路 [P].

施浩 .

中国专利 :CN2844936Y ,2006-12-06

[3]

集成电路、操作集成电路的方法和具有集成电路的装置 [P].

金范柱 .

中国专利 :CN104422878A ,2015-03-18

[4]

集成电路中的集成测试电路 [P].

G·弗兰科维斯基 ;

R·凯塞 .

中国专利 :CN1523368A ,2004-08-25

[5]

集成电路芯片和集成电路 [P].

曹旺 ;

陆健 ;

张敏 ;

高庆 .

中国专利 :CN210403720U ,2020-04-24

[6]

集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

[7]

集成电路芯片和集成电路 [P].

曹旺 ;

陆健 ;

张敏 ;

高庆 .

中国专利 :CN110534503A ,2019-12-03

[8]

集成电路和集成电路组 [P].

宋泰中 ;

白尚训 ;

赵成伟 ;

都桢湖 ;

梁箕容 ;

林辰永 .

韩国专利 :CN113192951B ,2024-01-05

[9]

集成电路和集成电路封装 [P].

石井雅博 ;

西尾岁朗 .

中国专利 :CN101052960A ,2007-10-10

[10]