用于测试集成电路的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811285056.0

申请日：

2018-10-31

公开(公告)号：

CN110118923A

公开(公告)日：

2019-08-13

发明(设计)人：

吴嘉洛 M·雅各布斯 V·C·K·吴 M·C·刘

申请人：

申请人地址：

巴巴多斯圣米加勒

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京市金杜律师事务所 11256

代理人：

酆迅

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20181031
2020-05-15	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20200424 变更事项:申请人变更前权利人:马维尔国际贸易有限公司变更后权利人:马维尔国际有限公司变更事项:地址变更前权利人:圣米加勒变更后权利人:百慕大哈密尔顿
2019-08-13	公开	公开
2020-05-15	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20200424 变更事项:申请人变更前权利人:马维尔国际有限公司变更后权利人:凯为国际公司变更事项:地址变更前权利人:百慕大哈密尔顿变更后权利人:开曼群岛大开曼岛福特街
2020-05-15	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20200424 变更事项:申请人变更前权利人:凯为国际公司变更后权利人:马维尔亚洲私人有限公司变更事项:地址变更前权利人:开曼群岛大开曼岛福特街变更后权利人:新加坡新加坡城

共 50 条

[1]

集成电路和用于测试该集成电路的方法 [P].

C·H·范贝尔克尔 ;

A·M·G·佩特尔斯 .

中国专利 :CN100477522C ,2004-07-21

[2]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

O·皮雷恩 .

中国专利 :CN1132554A ,1996-10-02

[3]

用于测试集成电路的方法和装置 [P].

I·布尔斯坦 .

中国专利 :CN102818983A ,2012-12-12

[4]

测试电路插入集成电路的方法、装置和集成电路 [P].

方志强 ;

汪瑶 ;

张伦 ;

耿锐 .

中国专利 :CN120409384A ,2025-08-01

[5]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[6]

远程集成电路测试方法和装置 [P].

阿龙·M·沃兹 .

中国专利 :CN100549711C ,2006-10-04

[7]

集成电路及用于测试集成电路的方法 [P].

克莱夫·大卫·比特尔斯通 .

中国专利 :CN104777414A ,2015-07-15

[8]

集成电路和用于集成电路的方法 [P].

布莱恩·J·卡姆普贝尔 ;

温森特·R·万卡纳尔 ;

格莱格里·S·斯柯特 ;

斯里巴兰·森萨纳姆 ;

丹尼尔·C·穆雷 .

中国专利 :CN102157188B ,2011-08-17

[9]

用于测试集成电路的测试方法和测试装置 [P].

R·布赫纳 ;

C·埃布纳 ;

S·莫泽尔 ;

P·劳舍尔 ;

A·福伊格特莱恩德 .

中国专利 :CN1965242A ,2007-05-16

[10]

测试集成电路的方法和装置 [P].

丘昂·V·法姆 ;

保罗·J.·胡普尔 ;

马克·A.·米勒 ;

罗斯·A.·阿拉斯帕 ;

卡赛·马沙尔 .

中国专利 :CN1309422A ,2001-08-22

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