一种面向软件缺陷预测的混合特征选择方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201710547660.5
申请日
2017-07-06
公开(公告)号
CN107391365A
公开(公告)日
2017-11-24
发明(设计)人
余啸 刘进 马子逸 崔晓晖 井溢洋 张建升
申请人
申请人地址
430072 湖北省武汉市武昌区珞珈山武汉大学
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人
鲁力
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种面向软件缺陷预测的特征聚类选择方法 [P]. 
江国华 ;
李丽媛 .
中国专利 :CN107577605A ,2018-01-12
[2]
一种面向软件缺陷个数预测的特征选择方法 [P]. 
余啸 ;
刘进 ;
马子逸 ;
崔晓晖 ;
谷懿 ;
井溢洋 .
中国专利 :CN107239798B ,2017-10-10
[3]
一种面向开源软件缺陷特征深度学习的软件缺陷预测方法 [P]. 
艾骏 ;
王飞 ;
许嘉熙 ;
郭皓然 ;
邹卓良 ;
施韬 .
中国专利 :CN110597735A ,2019-12-20
[4]
一种软件缺陷预测特征的选择方法及装置 [P]. 
滕俊元 ;
高猛 ;
郑小萌 ;
江云松 ;
孙民 ;
杜楠 ;
高栋栋 ;
李鹏宇 ;
侯成杰 ;
郝伟 .
中国专利 :CN112269732B ,2024-01-05
[5]
一种软件缺陷预测特征的选择方法及装置 [P]. 
滕俊元 ;
高猛 ;
郑小萌 ;
江云松 ;
孙民 ;
杜楠 ;
高栋栋 ;
李鹏宇 ;
侯成杰 ;
郝伟 .
中国专利 :CN112269732A ,2021-01-26
[6]
面向软件缺陷数据的特征选择及分类方法 [P]. 
李克文 ;
邹晶杰 .
中国专利 :CN105389598A ,2016-03-09
[7]
一种软件缺陷预测方法和软件缺陷预测系统 [P]. 
胡昌振 ;
单纯 ;
陈博洋 ;
马锐 ;
王勇 .
中国专利 :CN103810101B ,2014-05-21
[8]
一种基于谱聚类的软件缺陷特征选择方法 [P]. 
严亮 ;
许嘉熙 ;
艾骏 .
中国专利 :CN111338950A ,2020-06-26
[9]
一种基于RFECV特征选择的Bayes-LightGBM软件缺陷预测方法 [P]. 
吴海涛 ;
舒圣俊 .
中国专利 :CN114860298B ,2024-09-13
[10]
一种基于特征选择和集成学习的软件缺陷个数预测方法 [P]. 
余啸 ;
刘进 ;
井溢洋 ;
崔晓晖 ;
邱昌 .
中国专利 :CN107247666A ,2017-10-13