半导体射频器件的射频测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910201789.6

申请日：

2009-11-12

公开(公告)号：

CN102062834A

公开(公告)日：

2011-05-18

发明(设计)人：

周天舒

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

王江富

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-05-18	公开	公开
2011-07-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101088112010 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2009102017896 申请日:20091112
2013-06-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101608616782 IPC(主分类):G01R 31/26 专利申请号:2009102017896 申请公布日:20110518

共 50 条

[1]

射频半导体器件及用于制作射频半导体器件的方法 [P].

S·康普罗布斯特 ;

T·埃尔多尔 ;

W·哈特纳 .

德国专利 :CN118553729A ,2024-08-27

[2]

半导体射频器件及其栅极的制备方法 [P].

肖阳 ;

蔡勇 ;

邢娟 ;

尹立航 ;

吴增远 ;

荆晴晴 ;

薛俊民 ;

彭宇杰 ;

王恒 .

中国专利 :CN119767716A ,2025-04-04

[3]

半导体射频器件及其栅极的制备方法 [P].

肖阳 ;

蔡勇 ;

邢娟 ;

尹立航 ;

吴增远 ;

荆晴晴 ;

薛俊民 ;

彭宇杰 ;

王恒 .

中国专利 :CN119767716B ,2025-12-12

[4]

三端口射频器件射频参数测试方法 [P].

周天舒 .

中国专利 :CN102063515A ,2011-05-18

[5]

射频器件测试装置和射频器件测试系统 [P].

邱建源 ;

李涛 ;

苏国生 .

中国专利 :CN212159865U ,2020-12-15

[6]

射频半导体设备和制造射频半导体设备的方法 [P].

S·康普罗布斯特 ;

T·埃尔多尔 ;

W·哈特纳 .

德国专利 :CN119170604A ,2024-12-20

[7]

半导体测试射频探针 [P].

宋祥龙 ;

陈欢 ;

马向阳 .

中国专利 :CN114113719A ,2022-03-01

[8]

半导体测试射频探针 [P].

宋祥龙 .

中国专利 :CN119395337A ,2025-02-07

[9]

一种半导体功率射频器件 [P].

郑锦坚 ;

李水清 ;

张江勇 ;

张钰 ;

胡志勇 ;

蔡鑫 ;

陈婉君 ;

王星河 .

中国专利 :CN117690953A ,2024-03-12

[10]

半导体测试射频探针 [P].

宋祥龙 ;

陈欢 ;

马向阳 .

中国专利 :CN114137264A ,2022-03-04

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