一种厚膜电路模组测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201922113864.5

申请日：

2019-11-29

公开(公告)号：

CN211293158U

公开(公告)日：

2020-08-18

发明(设计)人：

杨春辉

申请人：

申请人地址：

212300 江苏省镇江市丹阳市开发区高楼社区(长湾西路南侧)

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

南京源古知识产权代理事务所(普通合伙) 32300

代理人：

吴丽娜

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-18	授权	授权
2022-11-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20191129 授权公告日:20200818 终止日期:20211129

共 50 条

[1]

一种膜厚测试仪 [P].

赵俊华 .

中国专利 :CN206330562U ,2017-07-14

[2]

膜厚测试仪 [P].

谭若山 .

中国专利 :CN222598795U ,2025-03-11

[3]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

董晓文 ;

张秋萍 .

中国专利 :CN2098041U ,1992-03-04

[4]

光学膜厚测试仪 [P].

魏杨 ;

薛尚清 ;

张博 ;

谢亮 .

中国专利 :CN201318934Y ,2009-09-30

[5]

厚膜集成电路功能测试仪 [P].

刘文针 ;

高文志 ;

陈爱萍 ;

梁艳臣 .

中国专利 :CN202166721U ,2012-03-14

[6]

一种台式膜厚测试仪 [P].

贺蓉 ;

李亭锦 ;

沈小江 .

中国专利 :CN210268519U ,2020-04-07

[7]

电子引信厚膜电路测试仪控制电路 [P].

罗根新 ;

侯国林 ;

郭志强 ;

赵安平 ;

潘博岩 .

中国专利 :CN109633325A ,2019-04-16

[8]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN205450198U ,2016-08-10

[9]

一种电气测试仪 [P].

郑培迎 .

中国专利 :CN203705327U ,2014-07-09

[10]

一种多路射频功率测试模组及测试仪 [P].

赵海鹏 ;

翟志伟 ;

邓崇旺 .

中国专利 :CN217034094U ,2022-07-22

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