厚膜集成电路功能测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120206417.5

申请日：

2011-06-17

公开(公告)号：

CN202166721U

公开(公告)日：

2012-03-14

发明(设计)人：

刘文针高文志陈爱萍梁艳臣

申请人：

申请人地址：

519015 广东省广州市珠海吉大九洲大道东石花三巷20号三层

IPC主分类号：

G01R313163

IPC分类号：

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

宫爱鹏

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-08-19	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101621087407 IPC(主分类):G01R 31/3163 专利号:ZL2011202064175 申请日:20110617 授权公告日:20120314 终止日期:20140617
2012-09-12	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101451935440 IPC(主分类):G01R 31/3163 专利号:ZL2011202064175 变更事项:专利权人变更前:珠海市华晶微电子有限公司变更后:珠海市华晶微电子有限公司变更事项:地址变更前:519015 广东省广州市珠海吉大九洲大道东石花三巷20号三层变更后:519015 广东省珠海市吉大九洲大道东石花三巷20号三层
2012-03-14	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路功能测试仪 [P].

徐瑞 ;

姜占鹏 ;

郭红 .

中国专利 :CN203337779U ,2013-12-11

[2]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

董晓文 ;

张秋萍 .

中国专利 :CN2098041U ,1992-03-04

[3]

厚膜混合集成电路测试仪 [P].

刘国庆 .

中国专利 :CN205450198U ,2016-08-10

[4]

厚膜集成电路的测试夹具 [P].

周永清 .

中国专利 :CN201464501U ,2010-05-12

[5]

通用集成电路测试仪 [P].

黄烨东 .

中国专利 :CN2062852U ,1990-09-26

[6]

集成电路测试仪 [P].

陈荣国 ;

郭云彪 .

中国专利 :CN86300097S ,1987-07-10

[7]

集成电路测试仪 [P].

徐流鑫 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN306348865S ,2021-02-26

[8]

集成电路测试仪 [P].

栗念龙 .

中国专利 :CN302381793S ,2013-04-03

[9]

集成电路测试仪 [P].

冯长江 ;

段荣霞 ;

李楠 ;

郎宾 ;

黄天辰 ;

刘美全 ;

濮霞 ;

陶炳坤 .

中国专利 :CN210051856U ,2020-02-11

[10]

集成电路测试仪 [P].

阎捷 ;

高文焕 ;

徐振英 ;

张尊侨 ;

金平 ;

田淑珍 ;

刘艳 ;

任艳频 ;

侯素芳 ;

任勇 .

中国专利 :CN201035124Y ,2008-03-12

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