铭牌缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210233522.0

申请日：

2022-03-10

公开(公告)号：

CN114612427A

公开(公告)日：

2022-06-10

发明(设计)人：

王春芳陆华章徐强王晓琳梁治华

申请人：

申请人地址：

519070 广东省珠海市前山金鸡西路

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06K714 G06V30146 G06V1075 G06V1082 G06K962 G06N304

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

沈园园

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20220310
2022-06-10	公开	公开

共 50 条

[1]

铭牌缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王春芳 ;

陆华章 ;

徐强 ;

王晓琳 ;

梁治华 .

中国专利 :CN114612427B ,2025-03-21

[2]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

宗泽亮 ;

刘华凯 ;

吴佳飞 .

中国专利 :CN114841946A ,2022-08-02

[3]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王晓阳 .

中国专利 :CN120833287A ,2025-10-24

[4]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049B ,2025-12-12

[5]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

詹佳伟 .

中国专利 :CN117830210A ,2024-04-05

[6]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

张立波 .

中国专利 :CN118154498A ,2024-06-07

[7]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

段涵呓 ;

朱绪胜 ;

敖清阳 ;

夏珊 ;

任超 ;

虞永杰 ;

李寅瑞 ;

郭君 ;

杨江南 .

中国专利 :CN119355049A ,2025-01-24

[8]

缺陷检测方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘尚知 ;

胡鸿珂 ;

郝伟 ;

余映天 ;

赵洋 ;

常酉泉 ;

方乐缘 ;

杨震 ;

颜志 ;

李晨妍 ;

曾欣 .

中国专利 :CN120374554A ,2025-07-25

[9]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈路燕 ;

邹建法 ;

聂磊 .

中国专利 :CN113344862A ,2021-09-03

[10]

缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118505654A ,2024-08-16

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