测试报告处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811638961.X
申请日
2018-12-29
公开(公告)号
CN111400159A
公开(公告)日
2020-07-10
发明(设计)人
黄威 张一武 张娜 张秋震
申请人
申请人地址
100088 北京市西城区新街口外大街28号D座112室(德胜园区)
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
G06F40186
代理机构
北京市立方律师事务所 11330
代理人
张筱宁
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试报告生成方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P]. 
林耿镇 ;
周小鲁 .
中国专利 :CN119720969A ,2025-03-28
[2]
测试报告处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
罗宇超 ;
陈钢 .
中国专利 :CN117093497B ,2024-05-07
[3]
设备测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
伊尹 .
中国专利 :CN117409763A ,2024-01-16
[4]
RDMA测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
沈克胜 .
中国专利 :CN117389813B ,2024-08-02
[5]
RDMA测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
沈克胜 .
中国专利 :CN117389813A ,2024-01-12
[6]
亮度测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
杨振升 .
中国专利 :CN117412025A ,2024-01-16
[7]
AB测试方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
黄金 ;
武洋 ;
张洪龙 .
中国专利 :CN113626336A ,2021-11-09
[8]
测试报告生成方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
李健 .
中国专利 :CN112256503B ,2021-01-22
[9]
电子证件处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
杨超宇 ;
贺鑫 ;
李佩伦 ;
康鹏 .
中国专利 :CN115659311A ,2023-01-31
[10]
文章处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P]. 
户其修 ;
张超 .
中国专利 :CN111327960B ,2020-06-23