测试报告处理方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311166780.2

申请日：

2023-09-11

公开(公告)号：

CN117093497B

公开(公告)日：

2024-05-07

发明(设计)人：

罗宇超陈钢

申请人：

苏州云体科技有限公司

申请人地址：

215134 江苏省苏州市漕湖街道观塘路1号西交大漕湖科技园B幢301室42号(集群登记)

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

代理机构：

北京路浩知识产权代理有限公司 11002

代理人：

王婷

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-07	授权	授权

共 50 条

[1]

测试报告处理方法、装置、电子设备及计算机存储介质 [P].

黄威 ;

张一武 ;

张娜 ;

张秋震 .

中国专利 :CN111400159A ,2020-07-10

[2]

测试报告生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何若溥 ;

李文宇 .

中国专利 :CN117370141A ,2024-01-09

[3]

测试报告生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘新 ;

张乐 .

中国专利 :CN121187959A ,2025-12-23

[4]

自动生成测试报告的方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

许可 ;

刘敏 .

中国专利 :CN111858354A ,2020-10-30

[5]

测试报告的生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

常萧颖 .

中国专利 :CN120597862A ,2025-09-05

[6]

测试报告自动生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张小辉 ;

傅俊寅 ;

黄辉 .

中国专利 :CN119005138A ,2024-11-22

[7]

发散测试的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

梁微笑 .

中国专利 :CN120523723A ,2025-08-22

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何俊 ;

马振克 ;

沈卫杰 .

中国专利 :CN118012687A ,2024-05-10

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙绍宗 .

中国专利 :CN117851265A ,2024-04-09

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王芸红 .

中国专利 :CN120295843A ,2025-07-11

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