存储单元信号裕度确定方法及装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110321723.1

申请日：

2021-03-25

公开(公告)号：

CN112885401B

公开(公告)日：

2021-06-01

发明(设计)人：

陈建吴耆贤

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

代理机构：

北京律智知识产权代理有限公司 11438

代理人：

王辉;阚梓瑄

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/12 申请日:20210325
2022-05-27	授权	授权
2021-06-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种存储单元的擦除方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

徐明揆 ;

吴彤彤 ;

温靖康 .

中国专利 :CN114283864A ,2022-04-05

[2]

存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

雷泰 ;

刘冲 ;

李振华 .

中国专利 :CN111554344B ,2020-08-18

[3]

通孔单元的确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘泽 ;

尹舒 ;

翟翠红 .

中国专利 :CN115577672A ,2023-01-06

[4]

存储单元的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

张喆 .

中国专利 :CN119049532A ,2024-11-29

[5]

针对存储单元的处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵婷 ;

代建林 ;

张岩 ;

崔正义 ;

唐永康 ;

杨影 ;

张亚敏 ;

王帅 .

中国专利 :CN120144376A ,2025-06-13

[6]

损坏模式确定方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

陈予郎 ;

潘晓东 .

中国专利 :CN111178374B ,2020-05-19

[7]

相似度确定方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘新波 .

中国专利 :CN117493909A ,2024-02-02

[8]

美观度确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

隆超 .

中国专利 :CN117727048A ,2024-03-19

[9]

美观度确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

隆超 .

中国专利 :CN117727049B ,2024-12-24

[10]

美观度确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

隆超 .

中国专利 :CN117727048B ,2025-06-24

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