存储单元的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411123511.2

申请日：

2024-08-15

公开(公告)号：

CN119049532A

公开(公告)日：

2024-11-29

发明(设计)人：

孙成思何瀚王灿张喆

申请人：

深圳佰维存储科技股份有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/08

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

江进

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-29	公开	公开
2024-12-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240815

共 50 条

[1]

针对存储单元的处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵婷 ;

代建林 ;

张岩 ;

崔正义 ;

唐永康 ;

杨影 ;

张亚敏 ;

王帅 .

中国专利 :CN120144376A ,2025-06-13

[2]

存储单元的测试方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

谢俊 ;

张力航 ;

沈佳铭 .

中国专利 :CN115424658B ,2022-12-02

[3]

存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

雷泰 ;

刘冲 ;

李振华 .

中国专利 :CN111554344B ,2020-08-18

[4]

检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114299026A ,2022-04-08

[5]

检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

黄汇钦 ;

吴龙江 .

中国专利 :CN115345065A ,2022-11-15

[6]

检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114936997A ,2022-08-23

[7]

电子设备、检测方法及可读存储介质 [P].

穆茜 .

中国专利 :CN115202445B ,2025-11-25

[8]

存储设备性能检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张一帆 ;

李昊桓 ;

孙京本 ;

刘清林 .

中国专利 :CN117632645A ,2024-03-01

[9]

设备检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张清 ;

毛翔宇 ;

邓钢 .

中国专利 :CN114281583A ,2022-04-05

[10]

设备检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

曾昭泽 .

中国专利 :CN120110962A ,2025-06-06

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