存储单元的测试方法、装置、电子设备、存储介质

被引：0

申请号：

CN202211352603.9

申请日：

2022-11-01

公开(公告)号：

CN115424658B

公开(公告)日：

2022-12-02

发明(设计)人：

谢俊张力航沈佳铭

申请人：

申请人地址：

211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路99号孵鹰大厦2268室(中国江苏自由贸易试验区南京片区)

IPC主分类号：

G11C2956

IPC分类号：

G06F1202

代理机构：

北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734

代理人：

江宇

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/56 申请日:20221101
2022-12-02	公开	公开
2023-01-31	授权	授权

共 50 条

[1]

存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

雷泰 ;

刘冲 ;

李振华 .

中国专利 :CN111554344B ,2020-08-18

[2]

存储单元、存储单元的控制方法、存储器及电子设备 [P].

杨正杰 .

中国专利 :CN115410611A ,2022-11-29

[3]

存储单元的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

张喆 .

中国专利 :CN119049532A ,2024-11-29

[4]

针对存储单元的处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵婷 ;

代建林 ;

张岩 ;

崔正义 ;

唐永康 ;

杨影 ;

张亚敏 ;

王帅 .

中国专利 :CN120144376A ,2025-06-13

[5]

存储单元装置、控制存储单元的方法、存储器阵列及电子设备 [P].

R·斯特伦茨 ;

W·兰海因里希 ;

M·罗里克 ;

R·韦斯纳 ;

A·格拉茨 ;

T·克恩 ;

G·坦佩尔 ;

岑柏湛 .

中国专利 :CN101388247B ,2009-03-18

[6]

FPGA存储单元失效分析方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

黄诗俊 ;

包朝伟 ;

张旭华 .

中国专利 :CN115641903B ,2024-08-09

[7]

FPGA存储单元失效分析方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

黄诗俊 ;

包朝伟 ;

张旭华 .

中国专利 :CN115641903A ,2023-01-24

[8]

管理存储单元的方法、电子设备和计算机可读存储介质 [P].

卓保特 ;

高健 ;

韩耕 ;

龚绍钦 .

美国专利 :CN113535073B ,2024-04-16

[9]

一种存储单元的编程方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

贺元魁 ;

潘荣华 ;

马思博 .

中国专利 :CN110556150A ,2019-12-10

[10]

一种存储单元的编程方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

贺元魁 ;

潘荣华 ;

马思博 .

中国专利 :CN110556145A ,2019-12-10

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