存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010348352.1
申请日
2020-04-28
公开(公告)号
CN111554344B
公开(公告)日
2020-08-18
发明(设计)人
雷泰 刘冲 李振华
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区桃源街道平山社区留仙大道1213号众冠红花岭工业南区2区4、8栋1层-3层及4栋4层
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
代理机构
深圳市博锐专利事务所 44275
代理人
卜科武
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
罗秉安 ;
连煜伟 ;
赖培挺 ;
李志勇 .
中国专利 :CN113051163A ,2021-06-29
[2]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
汤雪萍 ;
黄震人 ;
熊小庆 .
中国专利 :CN114416552A ,2022-04-29
[3]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王泽文 .
中国专利 :CN117609064A ,2024-02-27
[4]
单元测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
罗秉安 ;
连煜伟 ;
赖培挺 ;
李志勇 .
中国专利 :CN113051163B ,2024-12-27
[5]
单元测试方法及装置、存储介质及电子设备 [P]. 
牙祖将 ;
袁青星 .
中国专利 :CN114860589A ,2022-08-05
[6]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030B ,2025-09-19
[7]
失效单元测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
余玉 .
中国专利 :CN112927750A ,2021-06-08
[8]
单元测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P]. 
张成志 ;
魏莉力 ;
朱恒成 ;
盛勤 ;
张兵 ;
宋丽红 .
中国专利 :CN115587030A ,2023-01-10
[9]
单元测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P]. 
方海波 ;
梁家鹏 .
中国专利 :CN117331830A ,2024-01-02
[10]
存储单元的测试方法、装置、电子设备、存储介质 [P]. 
谢俊 ;
张力航 ;
沈佳铭 .
中国专利 :CN115424658B ,2022-12-02