FPGA存储单元失效分析方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211279300.9

申请日：

2022-10-19

公开(公告)号：

CN115641903B

公开(公告)日：

2024-08-09

发明(设计)人：

黄诗俊包朝伟张旭华

申请人：

深圳市紫光同创电子有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401

IPC主分类号：

G11C29/44

IPC分类号：

G11C29/42 G11C29/14

代理机构：

深圳国新南方知识产权代理有限公司 44374

代理人：

张亚娟

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-28	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G11C 29/44变更事项:专利权人变更前:深圳市紫光同创电子有限公司变更后:深圳市紫光同创电子股份有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401变更后:518000 广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401
2024-08-09	授权	授权

共 50 条

[1]

FPGA存储单元失效分析方法、装置、电子设备以及存储介质 [P].

黄诗俊 ;

包朝伟 ;

张旭华 .

中国专利 :CN115641903A ,2023-01-24

[2]

存储单元的测试方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

谢俊 ;

张力航 ;

沈佳铭 .

中国专利 :CN115424658B ,2022-12-02

[3]

芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林炜彦 ;

肖乐 .

中国专利 :CN114626267A ,2022-06-14

[4]

芯片失效分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

林炜彦 ;

肖乐 .

中国专利 :CN114626267B ,2025-12-19

[5]

存储单元测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

雷泰 ;

刘冲 ;

李振华 .

中国专利 :CN111554344B ,2020-08-18

[6]

封装器件失效分析方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王冲 ;

冯慧 ;

董晨曦 .

中国专利 :CN117761501A ,2024-03-26

[7]

存储单元的检测方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

张喆 .

中国专利 :CN119049532A ,2024-11-29

[8]

针对存储单元的处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

赵婷 ;

代建林 ;

张岩 ;

崔正义 ;

唐永康 ;

杨影 ;

张亚敏 ;

王帅 .

中国专利 :CN120144376A ,2025-06-13

[9]

锂电池失效分析方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李盼盼 ;

劳力 ;

王扬 ;

周鹏 .

中国专利 :CN110618387B ,2019-12-27

[10]

航空装备失效分析方法和装置、电子设备及存储介质 [P].

杜娟 ;

谭瑶 ;

孙涛 ;

高深远 ;

陈黎 .

中国专利 :CN118780177A ,2024-10-15

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