半导体工艺方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611193089.3
申请日
2016-12-21
公开(公告)号
CN106941077A
公开(公告)日
2017-07-11
发明(设计)人
颜妤庭 黄惠琪 蔡及铭
申请人
申请人地址
中国台湾新竹市
IPC主分类号
H01L21306
IPC分类号
B08B308 B08B302 B08B100 G01N2165
代理机构
隆天知识产权代理有限公司 72003
代理人
王芝艳
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体工艺方法和半导体蚀刻设备 [P]. 
陈峰 ;
蔡东翰 ;
曾凡维 ;
陈勇树 .
中国专利 :CN115513135A ,2022-12-23
[2]
半导体工艺、半导体器件的制作方法和半导体器件 [P]. 
黄康荣 ;
肖婷 ;
廖勇波 ;
翟焕焕 ;
吴佳蒙 .
中国专利 :CN110120342A ,2019-08-13
[3]
半导体工艺方法 [P]. 
刘曦光 .
中国专利 :CN112750715B ,2021-05-04
[4]
半导体工艺方法 [P]. 
李玮乐 .
中国专利 :CN114709303A ,2022-07-05
[5]
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韦伟 ;
洪纪伦 ;
吴宗祐 ;
林宗贤 .
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[6]
半导体工艺方法 [P]. 
林光启 ;
陈真 ;
刘晨旭 ;
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[7]
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[8]
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余德伟 ;
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[9]
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[10]
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