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一种晶圆面形实时在线测量系统及其测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110647956.0
申请日
:
2021-06-10
公开(公告)号
:
CN113587827A
公开(公告)日
:
2021-11-02
发明(设计)人
:
朱亮
沈文杰
李阳健
严浩
张杨燕
申请人
:
申请人地址
:
312300 浙江省绍兴市上虞区经济开发区通江西路218号
IPC主分类号
:
G01B1106
IPC分类号
:
G01B1130
代理机构
:
杭州中成专利事务所有限公司 33212
代理人
:
朱莹莹;周世骏
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-11-02
公开
公开
2021-11-19
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 申请日:20210610
共 50 条
[1]
一种玻璃材料应力的在线实时测量系统及其测量方法
[P].
尚奇
论文数:
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尚奇
;
陆健
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陆健
;
张宏超
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张宏超
.
中国专利
:CN110836740A
,2020-02-25
[2]
晶圆测量方法及其系统
[P].
陈建帆
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0
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机构:
达裕科技股份有限公司
达裕科技股份有限公司
陈建帆
.
中国专利
:CN120352662A
,2025-07-22
[3]
一种在线测量晶圆曲率的测量系统和测量方法
[P].
胡耀文
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
胡耀文
;
郭春磊
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
郭春磊
;
李肖辰
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
李肖辰
.
中国专利
:CN118670299A
,2024-09-20
[4]
一种在线测量晶圆曲率的测量系统和测量方法
[P].
胡耀文
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
胡耀文
;
郭春磊
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
郭春磊
;
李肖辰
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机构:
中微半导体(上海)有限公司
中微半导体(上海)有限公司
李肖辰
.
中国专利
:CN118670299B
,2024-12-06
[5]
一种晶圆翘曲测量系统及测量方法
[P].
许军
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
许军
;
张傲
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
张傲
;
朱樊樊
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
朱樊樊
;
余啸
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
余啸
;
汪小悦
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
汪小悦
;
汪亮
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
汪亮
;
高倩妹
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
高倩妹
;
王沛
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机构:
安徽光智科技有限公司
安徽光智科技有限公司
王沛
.
中国专利
:CN117419654A
,2024-01-19
[6]
晶圆测量方法
[P].
不公告发明人
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0
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0
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不公告发明人
.
中国专利
:CN112201587A
,2021-01-08
[7]
一种在线测量系统及其在线测量方法
[P].
彭雄良
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彭雄良
.
中国专利
:CN103084927A
,2013-05-08
[8]
双光束在线实时测量光学薄膜应力的装置及其测量方法
[P].
朱冠超
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朱冠超
;
方明
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方明
;
申雁鸣
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申雁鸣
;
易葵
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易葵
.
中国专利
:CN101251472A
,2008-08-27
[9]
形面测量方法
[P].
蒋雨晴
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蒋雨晴
;
陈伟
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陈伟
;
马超
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马超
;
舒畅
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舒畅
.
中国专利
:CN109916253A
,2019-06-21
[10]
一种大气颗粒物粒径和化学成分的实时在线测量系统及测量方法
[P].
桂华侨
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桂华侨
;
李德平
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李德平
;
程寅
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程寅
;
王杰
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王杰
;
王焕钦
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王焕钦
;
余同柱
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余同柱
;
刘建国
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刘建国
;
陆亦怀
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陆亦怀
;
鲁岸立
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鲁岸立
;
张礁石
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张礁石
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黄书华
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黄书华
;
伍德侠
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伍德侠
.
中国专利
:CN103454203B
,2013-12-18
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