一种芯片的漏电流测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820764742.5

申请日：

2018-05-22

公开(公告)号：

CN208255338U

公开(公告)日：

2018-12-18

发明(设计)人：

王淑琴

申请人：

申请人地址：

313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室

IPC主分类号：

G01R3102

IPC分类号：

G01R3101

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

郭晓凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-12-18	授权	授权
2019-09-27	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/02 登记生效日:20190910 变更事项:专利权人变更前权利人:湖州靖源信息技术有限公司变更后权利人:深圳摩通电气有限公司变更事项:地址变更前权利人:313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢920室变更后权利人:518000 广东省深圳市福田区沙头街道车公庙工业区泰然211栋工业厂房第6层603

共 50 条

[1]

一种芯片的漏电流测试系统 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108490306A ,2018-09-04

[2]

一种芯片的漏电流测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN208661819U ,2019-03-29

[3]

一种芯片的漏电流测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108787500A ,2018-11-13

[4]

一种芯片的漏电流检测设备 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN208520938U ,2019-02-19

[5]

一种芯片的漏电流检测设备 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108362973A ,2018-08-03

[6]

一种芯片漏电流测试系统 [P].

蒋思远 .

中国专利 :CN103439570A ,2013-12-11

[7]

一种能减少漏电流的可寻址测试芯片及其测试系统 [P].

蓝帆 .

中国专利 :CN209590170U ,2019-11-05

[8]

一种泄漏电流测试系统 [P].

余锐 ;

郭小庆 ;

汪子霞 ;

邵凯良 ;

赵旗伟 ;

宋红志 .

中国专利 :CN214278383U ,2021-09-24

[9]

漏电流测试设备 [P].

邱鹏 ;

王权 ;

湛思 ;

关巍 ;

黄剑锋 .

中国专利 :CN212275829U ,2021-01-01

[10]

一种测试集成电路漏电流的系统及其测试方法 [P].

敖翔 ;

张永坡 ;

王文廷 ;

李斌 ;

汪成龙 ;

王群 .

中国专利 :CN105301337A ,2016-02-03

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