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一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201711193949.8
申请日
:
2017-11-24
公开(公告)号
:
CN107976255B
公开(公告)日
:
2018-05-01
发明(设计)人
:
戚栋栋
申请人
:
申请人地址
:
264006 山东省烟台市开发区贵阳大街11号
IPC主分类号
:
G01J500
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
罗满
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-05-01
公开
公开
2020-05-15
授权
授权
2018-05-25
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/00 申请日:20171124
共 50 条
[1]
一种红外探测器非均匀性校正装置
[P].
武登山
论文数:
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武登山
;
曹剑中
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曹剑中
;
武力
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武力
;
王华伟
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王华伟
;
张兆会
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张兆会
;
闫阿奇
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闫阿奇
;
张建
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张建
;
周祚锋
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周祚锋
;
范哲源
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范哲源
.
中国专利
:CN103048051A
,2013-04-17
[2]
校正红外探测器的非均匀性的方法及装置
[P].
张鸿波
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张鸿波
;
李成世
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李成世
;
刘子骥
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刘子骥
.
中国专利
:CN108519160A
,2018-09-11
[3]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
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机构:
聂婷
;
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138B
,2024-03-19
[4]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
论文数:
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机构:
李明轩
;
论文数:
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机构:
聂婷
;
论文数:
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138A
,2024-02-20
[5]
一种红外探测器非均匀性校正装置
[P].
张燚
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张燚
;
常江
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常江
;
杨敏
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杨敏
;
刘科
论文数:
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0
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刘科
.
中国专利
:CN109341865A
,2019-02-15
[6]
红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置
[P].
张绍达
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张绍达
;
黎琼
论文数:
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
黎琼
;
蔡仲雨
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
蔡仲雨
;
张政
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张政
;
杨海朋
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
杨海朋
.
中国专利
:CN121185437A
,2025-12-23
[7]
一种红外探测器响应率非均匀性校正方法及系统
[P].
张轶
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
张轶
;
游聪娅
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
游聪娅
;
刘铭
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
刘铭
;
刘世光
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
刘世光
;
何温
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机构:
中国电子科技集团公司第十一研究所
中国电子科技集团公司第十一研究所
何温
.
中国专利
:CN119533679A
,2025-02-28
[8]
一种短波红外探测器非均匀校正方法及装置
[P].
赵凯生
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赵凯生
;
汪江华
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汪江华
;
潘晓东
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潘晓东
.
中国专利
:CN103065280A
,2013-04-24
[9]
一种基于探测器温度的红外图像非均匀性校正方法及系统
[P].
梁琨
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梁琨
;
杨彩兰
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杨彩兰
;
周波
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周波
;
蔡骏
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蔡骏
;
雷伟
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雷伟
;
樊启明
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樊启明
.
中国专利
:CN105737990B
,2016-07-06
[10]
扫描型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备
[P].
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机构:
刘哲
;
论文数:
引用数:
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机构:
邓宏涛
;
论文数:
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机构:
朱珣
;
论文数:
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机构:
高望
.
中国专利
:CN119090783A
,2024-12-06
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