校正红外探测器的非均匀性的方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201810307763.9
申请日
2018-04-08
公开(公告)号
CN108519160A
公开(公告)日
2018-09-11
发明(设计)人
张鸿波 李成世 刘子骥
申请人
申请人地址
610000 四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府三街69号1栋11层1115号
IPC主分类号
G01J500
IPC分类号
代理机构
成都其高专利代理事务所(特殊普通合伙) 51244
代理人
廖曾
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置 [P]. 
张绍达 ;
黎琼 ;
蔡仲雨 ;
张政 ;
杨海朋 .
中国专利 :CN121185437A ,2025-12-23
[2]
一种红外探测器非均匀性校正装置 [P]. 
张燚 ;
常江 ;
杨敏 ;
刘科 .
中国专利 :CN109341865A ,2019-02-15
[3]
一种红外探测器非均匀性校正装置 [P]. 
武登山 ;
曹剑中 ;
武力 ;
王华伟 ;
张兆会 ;
闫阿奇 ;
张建 ;
周祚锋 ;
范哲源 .
中国专利 :CN103048051A ,2013-04-17
[4]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法 [P]. 
李明轩 ;
聂婷 ;
黄良 ;
韩诚山 ;
刘鑫 ;
王宁峰 .
中国专利 :CN117571138B ,2024-03-19
[5]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法 [P]. 
李明轩 ;
聂婷 ;
黄良 ;
韩诚山 ;
刘鑫 ;
王宁峰 .
中国专利 :CN117571138A ,2024-02-20
[6]
用于红外焦平面探测器非均匀性校正的方法及装置 [P]. 
汤心溢 ;
施家明 ;
张涌 .
中国专利 :CN1430048A ,2003-07-16
[7]
红外热像仪探测器的非均匀性校正补偿件 [P]. 
黄立 ;
夏循龙 .
中国专利 :CN202928696U ,2013-05-08
[8]
用于红外探测器非均匀性校正的超构透镜阵列及方法 [P]. 
吴鑫 ;
辛雪倩 ;
黄曦 ;
刘德连 ;
程强 ;
张建奇 .
中国专利 :CN110455418A ,2019-11-15
[9]
无挡片红外探测器非均匀校正电路、方法及红外探测器 [P]. 
魏斌 ;
翟光杰 ;
潘辉 ;
武佩 .
中国专利 :CN111982311B ,2020-11-24
[10]
一种红外探测器非均匀性校正系数的修正方法及装置 [P]. 
戚栋栋 .
中国专利 :CN107976255B ,2018-05-01