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用于红外探测器非均匀性校正的超构透镜阵列及方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910766732.4
申请日
:
2019-08-20
公开(公告)号
:
CN110455418A
公开(公告)日
:
2019-11-15
发明(设计)人
:
吴鑫
辛雪倩
黄曦
刘德连
程强
张建奇
申请人
:
申请人地址
:
710071 陕西省西安市太白南路2号
IPC主分类号
:
G01J508
IPC分类号
:
代理机构
:
陕西电子工业专利中心 61205
代理人
:
田文英;王品华
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-12-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 5/08 申请日:20190820
2020-10-23
授权
授权
2019-11-15
公开
公开
共 50 条
[1]
校正红外探测器的非均匀性的方法及装置
[P].
张鸿波
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张鸿波
;
李成世
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李成世
;
刘子骥
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刘子骥
.
中国专利
:CN108519160A
,2018-09-11
[2]
用于红外焦平面探测器非均匀性校正的方法及装置
[P].
汤心溢
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汤心溢
;
施家明
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施家明
;
张涌
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张涌
.
中国专利
:CN1430048A
,2003-07-16
[3]
红外热像仪探测器的非均匀性校正补偿件
[P].
黄立
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黄立
;
夏循龙
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夏循龙
.
中国专利
:CN202928696U
,2013-05-08
[4]
大面阵红外探测器非均性校正方法
[P].
柳月波
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
柳月波
;
颜佳辉
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
颜佳辉
;
牛皓
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
牛皓
;
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机构:
杨少华
;
陆健婷
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陆健婷
;
王宏跃
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
马腾
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
马腾
;
廖文渊
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中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
廖文渊
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN120628310A
,2025-09-12
[5]
无挡片红外探测器非均匀校正电路、方法及红外探测器
[P].
魏斌
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魏斌
;
翟光杰
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翟光杰
;
潘辉
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潘辉
;
武佩
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武佩
.
中国专利
:CN111982311B
,2020-11-24
[6]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
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机构:
聂婷
;
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黄良
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韩诚山
;
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刘鑫
;
王宁峰
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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138B
,2024-03-19
[7]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
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机构:
聂婷
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机构:
黄良
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138A
,2024-02-20
[8]
一种红外探测器非均匀性校正装置
[P].
张燚
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张燚
;
常江
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常江
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杨敏
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杨敏
;
刘科
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刘科
.
中国专利
:CN109341865A
,2019-02-15
[9]
一种红外探测器非均匀性校正装置
[P].
武登山
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武登山
;
曹剑中
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曹剑中
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武力
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武力
;
王华伟
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王华伟
;
张兆会
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张兆会
;
闫阿奇
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闫阿奇
;
张建
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张建
;
周祚锋
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周祚锋
;
范哲源
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范哲源
.
中国专利
:CN103048051A
,2013-04-17
[10]
红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置
[P].
张绍达
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张绍达
;
黎琼
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
黎琼
;
蔡仲雨
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
蔡仲雨
;
张政
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张政
;
杨海朋
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
杨海朋
.
中国专利
:CN121185437A
,2025-12-23
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