基于红外探测器的片间非均匀性校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410055750.2

申请日：

2024-01-15

公开(公告)号：

CN117571138A

公开(公告)日：

2024-02-20

发明(设计)人：

李明轩聂婷黄良韩诚山刘鑫王宁峰

申请人：

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G01J5/90

IPC分类号：

代理机构：

长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218

代理人：

张羽

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-19	授权	授权
2024-03-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/90申请日:20240115
2024-02-20	公开	公开

共 50 条

[1]

基于红外探测器的片间非均匀性校正方法 [P].

李明轩 ;

聂婷 ;

黄良 ;

韩诚山 ;

刘鑫 ;

王宁峰 .

中国专利 :CN117571138B ,2024-03-19

[2]

校正红外探测器的非均匀性的方法及装置 [P].

张鸿波 ;

李成世 ;

刘子骥 .

中国专利 :CN108519160A ,2018-09-11

[3]

大面阵红外探测器非均性校正方法 [P].

柳月波 ;

颜佳辉 ;

牛皓 ;

杨少华 ;

陆健婷 ;

王宏跃 ;

马腾 ;

廖文渊 ;

路国光 .

中国专利 :CN120628310A ,2025-09-12

[4]

无挡片红外探测器非均匀校正电路、方法及红外探测器 [P].

魏斌 ;

翟光杰 ;

潘辉 ;

武佩 .

中国专利 :CN111982311B ,2020-11-24

[5]

红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置 [P].

张绍达 ;

黎琼 ;

蔡仲雨 ;

张政 ;

杨海朋 .

中国专利 :CN121185437A ,2025-12-23

[6]

一种短波红外探测器非均匀校正方法及装置 [P].

赵凯生 ;

汪江华 ;

潘晓东 .

中国专利 :CN103065280A ,2013-04-24

[7]

扫描型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备 [P].

刘哲 ;

邓宏涛 ;

朱珣 ;

高望 .

中国专利 :CN119090783A ,2024-12-06

[8]

扫描型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备 [P].

刘哲 ;

邓宏涛 ;

朱珣 ;

高望 .

中国专利 :CN119090783B ,2025-03-28

[9]

凝视型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备 [P].

刘哲 ;

詹志明 ;

周静 ;

赖重远 .

中国专利 :CN119085863B ,2025-03-28

[10]

凝视型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备 [P].

刘哲 ;

詹志明 ;

周静 ;

赖重远 .

中国专利 :CN119085863A ,2024-12-06

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