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凝视型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202411117746.0
申请日
:
2024-08-14
公开(公告)号
:
CN119085863A
公开(公告)日
:
2024-12-06
发明(设计)人
:
刘哲
詹志明
周静
赖重远
申请人
:
江汉大学
申请人地址
:
430056 湖北省武汉市沌口经济技术开发区新江大路8号
IPC主分类号
:
G01J5/90
IPC分类号
:
G01J5/48
G01J5/08
H04N25/674
H04N25/677
H04N25/20
H04N5/14
代理机构
:
武汉知松梁权知识产权代理事务所(普通合伙) 42319
代理人
:
董银辉
法律状态
:
授权
国省代码
:
湖北省 孝感市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-03-28
授权
授权
2024-12-24
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):G01J 5/90申请日:20240814
2024-12-06
公开
公开
共 50 条
[1]
凝视型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
刘哲
;
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机构:
詹志明
;
论文数:
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机构:
周静
;
论文数:
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机构:
赖重远
.
中国专利
:CN119085863B
,2025-03-28
[2]
扫描型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备
[P].
论文数:
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机构:
刘哲
;
论文数:
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机构:
邓宏涛
;
论文数:
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机构:
朱珣
;
论文数:
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机构:
高望
.
中国专利
:CN119090783A
,2024-12-06
[3]
扫描型红外探测器的图像增益非均匀性校正方法及设备
[P].
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机构:
刘哲
;
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机构:
邓宏涛
;
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机构:
朱珣
;
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机构:
高望
.
中国专利
:CN119090783B
,2025-03-28
[4]
凝视红外焦平面探测器自适应非均匀性校正方法
[P].
刘传明
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刘传明
;
吴诚
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吴诚
;
苏俊波
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苏俊波
;
苏兰
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苏兰
;
陈吕吉
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陈吕吉
.
中国专利
:CN1811360A
,2006-08-02
[5]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
论文数:
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机构:
聂婷
;
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138B
,2024-03-19
[6]
基于红外探测器的片间非均匀性校正方法
[P].
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机构:
李明轩
;
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机构:
聂婷
;
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机构:
黄良
;
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机构:
韩诚山
;
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机构:
刘鑫
;
王宁峰
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机构:
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
王宁峰
.
中国专利
:CN117571138A
,2024-02-20
[7]
校正红外探测器的非均匀性的方法及装置
[P].
张鸿波
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张鸿波
;
李成世
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李成世
;
刘子骥
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刘子骥
.
中国专利
:CN108519160A
,2018-09-11
[8]
红外探测器的逐点时域校准的非均匀性校正方法及装置
[P].
张绍达
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张绍达
;
黎琼
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
黎琼
;
蔡仲雨
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
蔡仲雨
;
张政
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
张政
;
杨海朋
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机构:
深圳市达芯半导体科技有限公司
深圳市达芯半导体科技有限公司
杨海朋
.
中国专利
:CN121185437A
,2025-12-23
[9]
一种基于探测器温度的红外图像非均匀性校正方法及系统
[P].
梁琨
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梁琨
;
杨彩兰
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杨彩兰
;
周波
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周波
;
蔡骏
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蔡骏
;
雷伟
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雷伟
;
樊启明
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樊启明
.
中国专利
:CN105737990B
,2016-07-06
[10]
大面阵红外探测器非均性校正方法
[P].
柳月波
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
柳月波
;
颜佳辉
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
颜佳辉
;
牛皓
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
牛皓
;
论文数:
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机构:
杨少华
;
陆健婷
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陆健婷
;
王宏跃
论文数:
0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
马腾
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
马腾
;
廖文渊
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
廖文渊
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN120628310A
,2025-09-12
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