在半导体测试环境中使用虚拟仪器的系统、方法和设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201080069000.7
申请日
2010-09-07
公开(公告)号
CN103109275A
公开(公告)日
2013-05-15
发明(设计)人
克劳斯-迪特尔·稀里格斯 林甲威 杜恩坎·果尔蕾 晓闵·吉米·金 埃里克·H·沃克里克
申请人
申请人地址
新加坡新加坡市
IPC主分类号
G06F1100
IPC分类号
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
李晓冬
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
基于虚拟仪器的温控开关测试系统和方法 [P]. 
苏惠强 ;
陈维亚 .
中国专利 :CN102323543A ,2012-01-18
[2]
支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统 [P]. 
詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特 .
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[3]
基于虚拟仪器技术的电力设备测试系统 [P]. 
王勇 ;
陆国俊 ;
吴海宏 ;
曹柏林 ;
黄青丹 ;
张德智 ;
辛平野 ;
伍衡 ;
刘广辉 ;
易满成 ;
黄炎光 ;
方健 ;
陈俊 ;
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宁宇 ;
张显聪 .
中国专利 :CN102749544A ,2012-10-24
[4]
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张思维 ;
魏砚雨 ;
张重雄 ;
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[5]
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裴文江 ;
高伟 ;
薛峰 ;
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[6]
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刘佳艺 ;
鲁鹏 ;
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张肖 ;
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[7]
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[8]
半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P]. 
张健 .
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[9]
用于半导体测试的方法和装置 [P]. 
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[10]
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刘维嘉 ;
水利民 ;
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陈学锋 .
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