支持多虚拟逻辑测试仪的半导体测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN01115884.0

申请日：

2001-05-11

公开(公告)号：

CN1293387C

公开(公告)日：

2002-12-18

发明(设计)人：

詹姆斯·阿兰·特恩奎斯特

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

永新专利商标代理有限公司

代理人：

韩宏

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-07-28	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101004178852 IPC(主分类):G01R 31/26 专利号:ZL011158840 申请日:20010511 授权公告日:20070103
2002-12-18	公开	公开
2007-01-03	授权	授权
2004-07-28	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

基于半导体测试仪的DNA折纸薄膜导电测试方法 [P].

王萍 ;

周如鑫 ;

朱元杰 ;

徐艳 ;

刘睿 .

中国专利 :CN110488173A ,2019-11-22

[2]

半导体测试仪 [P].

谢晋春 ;

辛吉升 ;

桑浚之 .

中国专利 :CN101458302A ,2009-06-17

[3]

半导体测试系统 [P].

汪秉龙 ;

刘春生 ;

詹淳帆 ;

李世强 .

中国专利 :CN215575492U ,2022-01-18

[4]

逻辑测试仪 [P].

孙轶群 .

中国专利 :CN303789837S ,2016-08-10

[5]

半导体参数测试仪 [P].

吉波 ;

段文军 ;

卞荣剑 .

中国专利 :CN307441483S ,2022-07-08

[6]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[7]

半导体测试仪的程序执行系统 [P].

山下安吉 .

中国专利 :CN1293388C ,2002-10-16

[8]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[9]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[10]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

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