用于半导体测试的方法和装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610007472.5

申请日：

2006-02-14

公开(公告)号：

CN1825129A

公开(公告)日：

2006-08-30

发明(设计)人：

石塚好司

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3128 H01L2166

代理机构：

北京东方亿思知识产权代理有限责任公司

代理人：

柳春雷

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-22	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2006-08-30	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体测试装置、半导体测试系统以及半导体测试方法 [P].

陈颢 ;

林鸿志 ;

王敏哲 .

中国专利 :CN109425810A ,2019-03-05

[2]

用于测试半导体装置的设备和方法 [P].

李敬淑 ;

朴钟必 ;

具权本 ;

金彣锡 ;

闵丙准 .

中国专利 :CN104112480A ,2014-10-22

[3]

用于半导体器件的测试装置和制造半导体器件的方法 [P].

尹柱盛 ;

权纯一 ;

俞柄敃 .

中国专利 :CN110596561B ,2019-12-20

[4]

半导体测试系统、设计方法、测试方法和测试装置 [P].

鹿祥宾 ;

王立城 ;

贺骏 ;

赵文仙 ;

刘佳艺 ;

鲁鹏 ;

刘波 ;

张肖 ;

郭俊涛 .

中国专利 :CN120214526A ,2025-06-27

[5]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192B ,2024-10-29

[6]

半导体测试板卡、半导体测试系统及测试方法 [P].

吴炳龙 ;

胡刚 ;

袁晓航 ;

胡松德 ;

刘时杰 .

中国专利 :CN118409192A ,2024-07-30

[7]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN210442470U ,2020-05-01

[8]

半导体测试系统 [P].

刘浩 .

中国专利 :CN110333431A ,2019-10-15

[9]

半导体测试系统 [P].

矢野智巳 ;

冈本幸造 ;

森本琢巳 .

中国专利 :CN100350587C ,2006-04-19

[10]

半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统 [P].

张健 .

中国专利 :CN118655433A ,2024-09-17

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