一种Si基SiC晶圆及其制备方法

被引:0
申请号
CN202110122523.3
申请日
2021-01-28
公开(公告)号
CN114823479A
公开(公告)日
2022-07-29
发明(设计)人
王磊 赵泓达 李博 郑中山 张学文 韩郑生 高见头 滕瑞 刘海南 赵发展
申请人
申请人地址
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号
H01L21762
IPC分类号
H01L2712
代理机构
北京华沛德权律师事务所 11302
代理人
房德权
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
SiC外延晶圆、SiC外延晶圆的制造装置、SiC外延晶圆的制造方法及半导体装置 [P]. 
浅水启州 .
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[2]
一种晶圆湿法刻蚀方法及其晶圆 [P]. 
张宾 ;
陈新准 ;
陈善任 ;
郑德智 ;
王帅 ;
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朱瑞 ;
程元红 ;
李娜 ;
江俊易 ;
张福容 ;
隆艺瑶 .
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[3]
一种SiC晶圆的制造方法 [P]. 
彭谞睿 ;
张紫辰 ;
侯煜 ;
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张喆 ;
宋琦 ;
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[4]
晶圆及其制备方法 [P]. 
乔明 ;
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章文通 ;
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[5]
晶圆及其制备方法 [P]. 
乔明 ;
方冬 ;
章文通 ;
张波 .
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[6]
一种晶圆级外延薄膜及其制备方法 [P]. 
张易军 ;
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[7]
一种晶圆结构及其制备方法 [P]. 
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[8]
一种晶圆结构及其制备方法 [P]. 
张庭高 ;
孙钧 ;
高红莲 .
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[9]
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陈彤 .
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[10]
一种SiC基DMOSFET器件及其制备方法 [P]. 
张瑜洁 ;
李昀佶 ;
陈彤 .
中国专利 :CN109801959A ,2019-05-24