学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

形貌测量方法及其测量装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200510114335.7
申请日：
2005-10-20
公开(公告)号：
CN1952594B
公开(公告)日：
2007-04-25
发明(设计)人：
张宏彰 林耀明
申请人：
申请人地址：
中国台湾桃园县
IPC主分类号：
G01B1124
IPC分类号：
G01B902 G01B904
代理机构：
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人：
李强
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2007-06-13 实质审查的生效 实质审查的生效
2010-04-14 授权 授权
2007-04-25 公开 公开
共 50 条
[1]
形貌测量设备、形貌测量装置及测量方法 [P]. 
马勋亮 .
中国专利 :CN118089582A ,2024-05-28
[2]
一维表面形貌测量系统及其测量方法 [P]. 
王建立 ;
王之一 ;
王廷煜 ;
杨永强 ;
糜小涛 ;
杨禹凯 ;
全胜 ;
姚凯男 ;
刘昌华 .
中国专利 :CN115342749A ,2022-11-15
[3]
一维表面形貌测量系统及其测量方法 [P]. 
王建立 ;
王之一 ;
王廷煜 ;
杨永强 ;
糜小涛 ;
杨禹凯 ;
全胜 ;
姚凯男 ;
刘昌华 .
中国专利 :CN115342749B ,2025-07-22
[4]
磁场测量装置及其测量方法 [P]. 
侍行剑 ;
蔡志鸣 ;
李华旺 ;
陈琨 ;
刘野 .
中国专利 :CN120161391A ,2025-06-17
[5]
物体表面形貌测量方法 [P]. 
刘庆 ;
李军旗 ;
中川威雄 .
中国专利 :CN101354246A ,2009-01-28
[6]
一种曲面形貌的测量装置及其测量方法 [P]. 
詹建明 ;
周杰 ;
胡利永 ;
王义强 ;
张慧娟 .
中国专利 :CN113865542A ,2021-12-31
[7]
工件表面形貌精密测量装置及测量方法 [P]. 
戴强 ;
徐彦德 .
中国专利 :CN101403608A ,2009-04-08
[8]
物体形貌测量方法 [P]. 
刘庆 ;
李军旗 ;
中川威雄 .
中国专利 :CN101358838B ,2009-02-04
[9]
多晶薄膜形貌的测量方法及测量装置 [P]. 
何小川 ;
翁羽翔 .
中国专利 :CN104729425A ,2015-06-24
[10]
测量装置及其测量方法 [P]. 
申红艳 ;
阎芬萍 ;
申成龙 ;
崔红军 ;
陈杰 ;
张月琦 ;
王楠 ;
马丽娜 ;
成婷婷 ;
程泓勋 .
中国专利 :CN114046705A ,2022-02-15
12345