一种曲面形貌的测量装置及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111093583.3

申请日：

2021-09-17

公开(公告)号：

CN113865542A

公开(公告)日：

2021-12-31

发明(设计)人：

詹建明周杰胡利永王义强张慧娟

申请人：

申请人地址：

315000 浙江省宁波市鄞州区高教园区学府路1号

IPC主分类号：

G01B2120

IPC分类号：

G01B2130

代理机构：

宁波高新区核心力专利代理事务所(普通合伙) 33273

代理人：

蔡菡华

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/20 申请日:20210917
2021-12-31	公开	公开

共 50 条

[1]

形貌测量设备、形貌测量装置及测量方法 [P].

马勋亮 .

中国专利 :CN118089582A ,2024-05-28

[2]

形貌测量方法及其测量装置 [P].

张宏彰 ;

林耀明 .

中国专利 :CN1952594B ,2007-04-25

[3]

曲面测量装置和测量方法 [P].

翟泳通 .

中国专利 :CN101354242B ,2009-01-28

[4]

自由曲面形貌三维测量方法及装置 [P].

任旭升 ;

李县洛 ;

腾霖 ;

陈勇 .

中国专利 :CN104374334B ,2015-02-25

[5]

曲面精密测量装置、曲面加工设备及其曲面测量方法 [P].

江敏 ;

于久宝 ;

陈高强 ;

陈万群 ;

王正根 .

中国专利 :CN118438263A ,2024-08-06

[6]

曲面精密测量装置、曲面加工设备及其曲面测量方法 [P].

江敏 ;

于久宝 ;

陈高强 ;

陈万群 ;

王正根 .

中国专利 :CN118438263B ,2024-10-29

[7]

一种曲面扫描测量装置及其扫描测量方法 [P].

尹自强 ;

翁川 ;

柴宁 ;

邓海深 ;

杨义军 .

中国专利 :CN114608471B ,2024-06-21

[8]

一种曲面扫描测量装置及其扫描测量方法 [P].

尹自强 ;

翁川 ;

柴宁 ;

邓海深 ;

杨义军 .

中国专利 :CN114608471A ,2022-06-10

[9]

一种滑坡位移测量装置及其测量方法 [P].

陆琦 ;

马乐乐 ;

孙国辉 ;

孙志军 ;

苏胜军 ;

华建兵 ;

冯安 ;

刘齐放 .

中国专利 :CN112013803B ,2020-12-01

[10]

一种角度位移测量装置及其测量方法 [P].

于海 ;

万秋华 ;

赵长海 ;

卢新然 ;

梁立辉 .

中国专利 :CN109238176A ,2019-01-18

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