膜层光谱的实时测量装置及其测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610028625.4

申请日：

2006-07-05

公开(公告)号：

CN1877298A

公开(公告)日：

2006-12-13

发明(设计)人：

高慧慧朱美萍肖连君易葵范正修

申请人：

申请人地址：

201800上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01N2117

IPC分类号：

G01B1106

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2006-12-13	公开	公开
2007-02-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-08-12	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回

共 50 条

[1]

膜层光谱的实时测量装置 [P].

高慧慧 ;

朱美萍 ;

肖连君 ;

易葵 ;

范正修 .

中国专利 :CN2916622Y ,2007-06-27

[2]

时间分辨光谱的测量方法及测量装置 [P].

黄世华 ;

梁春军 ;

崔尚科 .

中国专利 :CN1587929A ,2005-03-02

[3]

土壤容重实时测量方法及其测量装置 [P].

盛文溢 ;

李淼 ;

曾新华 ;

李华龙 ;

郑守国 ;

朱泽德 ;

翁士状 .

中国专利 :CN104034861B ,2014-09-10

[4]

光伏材料光谱响应实时同步测量装置及测量方法 [P].

李茂奎 ;

王震 ;

罗路 .

中国专利 :CN102253321B ,2011-11-23

[5]

水体表观光谱测量装置及其测量方法 [P].

赵辉 ;

梁洪易 ;

肖旭斌 ;

罗飞 .

中国专利 :CN109490221A ,2019-03-19

[6]

竹筒测量方法及其测量装置 [P].

陈森永 .

中国专利 :CN113340218A ,2021-09-03

[7]

液体折射率CCD实时测量装置及其测量方法 [P].

苗润才 ;

张宗权 ;

杨宗立 ;

贾西友 ;

韩鹏斌 .

中国专利 :CN101776572A ,2010-07-14

[8]

膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置 [P].

刘公才 .

中国专利 :CN108981624A ,2018-12-11

[9]

涡旋光束的涡旋强度测量装置及其测量方法 [P].

冯国英 ;

郭劲苗 .

中国专利 :CN114295203A ,2022-04-08

[10]

膜层应力测量装置及测量方法 [P].

杨稳华 .

中国专利 :CN112525395A ,2021-03-19

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