膜层光谱的实时测量装置

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200620043654.3
申请日
2006-07-05
公开(公告)号
CN2916622Y
公开(公告)日
2007-06-27
发明(设计)人
高慧慧 朱美萍 肖连君 易葵 范正修
申请人
申请人地址
201800上海市800-211邮政信箱
IPC主分类号
G01N2117
IPC分类号
G01B1106
代理机构
上海新天专利代理有限公司
代理人
张泽纯
法律状态
专利权的终止
国省代码
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共 50 条
[1]
膜层光谱的实时测量装置及其测量方法 [P]. 
高慧慧 ;
朱美萍 ;
肖连君 ;
易葵 ;
范正修 .
中国专利 :CN1877298A ,2006-12-13
[2]
膜层厚度测量装置 [P]. 
焦阳 ;
严翔 ;
闫晓晖 ;
丁丽真 .
中国专利 :CN223122176U ,2025-07-18
[3]
一种实时高效的非线性光谱特性测量装置 [P]. 
张霖 ;
马玉荣 ;
杨一 ;
任寰 ;
石振东 ;
马骅 ;
原泉 ;
冯晓璇 ;
陈波 ;
杨晓瑜 ;
马可 ;
李东 ;
姜宏振 ;
刘勇 ;
巴荣声 ;
周信达 ;
郑垠波 .
中国专利 :CN205301164U ,2016-06-08
[4]
宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置 [P]. 
徐学科 ;
汤兆胜 ;
范正修 ;
邵建达 .
中国专利 :CN2638044Y ,2004-09-01
[5]
宽角度宽光谱的偏振分束膜特性的测量装置 [P]. 
徐学科 ;
汤兆胜 ;
范正修 ;
邵建达 .
中国专利 :CN1475780A ,2004-02-18
[6]
矿热炉电极电流的实时测量装置 [P]. 
崔存生 .
中国专利 :CN204129111U ,2015-01-28
[7]
一种膜层切割装置及膜层厚度测量系统 [P]. 
杨驰 .
中国专利 :CN206160986U ,2017-05-10
[8]
膜层厚度测量方法及膜层厚度测量装置 [P]. 
刘公才 .
中国专利 :CN108981624A ,2018-12-11
[9]
一种紫外光谱的测量装置 [P]. 
董翊 .
中国专利 :CN212082600U ,2020-12-04
[10]
波片相位延迟光谱特性的测量装置 [P]. 
张璐 .
中国专利 :CN203178064U ,2013-09-04