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介电常数测量方法及装置
被引:0
申请号
:
CN202010978090.7
申请日
:
2020-09-16
公开(公告)号
:
CN114264884A
公开(公告)日
:
2022-04-01
发明(设计)人
:
郭富祥
申请人
:
申请人地址
:
523860 广东省东莞市长安镇乌沙海滨路18号
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
H04W430
代理机构
:
广州三环专利商标代理有限公司 44202
代理人
:
熊永强
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-04-19
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20200916
2022-04-01
公开
公开
共 50 条
[1]
介电常数的测量方法
[P].
高倩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
高倩
;
杨涛
论文数:
0
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0
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
杨涛
.
中国专利
:CN120914125A
,2025-11-07
[2]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
论文数:
0
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
论文数:
0
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
论文数:
0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
论文数:
0
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486A
,2025-10-28
[3]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
论文数:
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
论文数:
0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486B
,2025-12-23
[4]
遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板
[P].
郑风云
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郑风云
;
徐阳
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0
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0
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徐阳
;
陈建伦
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0
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陈建伦
;
刘力明
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刘力明
;
雷国奖
论文数:
0
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雷国奖
.
中国专利
:CN111060751A
,2020-04-24
[5]
薄膜介电常数测量结构及其测量方法
[P].
汪国军
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0
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0
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机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
汪国军
.
中国专利
:CN119757879A
,2025-04-04
[6]
冻土介电常数测量夹具及测量方法
[P].
赵少杰
论文数:
0
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0
赵少杰
;
张立新
论文数:
0
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张立新
.
中国专利
:CN101666831A
,2010-03-10
[7]
低损耗介质介电常数测量装置及测量方法
[P].
孟治国
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0
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孟治国
;
陈圣波
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陈圣波
;
赵凯
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赵凯
;
郑兴明
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郑兴明
;
姜涛
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0
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姜涛
;
王景然
论文数:
0
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0
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王景然
.
中国专利
:CN102135573A
,2011-07-27
[8]
变温介电常数精密测量装置及测量方法
[P].
戈加震
论文数:
0
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0
戈加震
;
熊仁根
论文数:
0
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0
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熊仁根
.
中国专利
:CN109164303A
,2019-01-08
[9]
低温固体介电常数测量方法
[P].
徐高卫
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徐高卫
;
周全
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周全
;
任洁
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任洁
;
谢晓明
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0
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0
谢晓明
.
中国专利
:CN113406397B
,2021-09-17
[10]
介质塑料的介电常数测量方法及装置
[P].
张飞
论文数:
0
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0
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0
张飞
.
中国专利
:CN109342514A
,2019-02-15
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