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低温固体介电常数测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110802223.X
申请日
:
2021-07-15
公开(公告)号
:
CN113406397B
公开(公告)日
:
2021-09-17
发明(设计)人
:
徐高卫
周全
任洁
谢晓明
申请人
:
申请人地址
:
200050 上海市长宁区长宁路865号
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
代理机构
:
上海泰博知识产权代理有限公司 31451
代理人
:
钱文斌
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20210715
2021-09-17
公开
公开
2022-07-08
授权
授权
共 50 条
[1]
固体电介质复介电常数测量方法
[P].
梁昌洪
论文数:
0
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0
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梁昌洪
;
郑家骏
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郑家骏
.
中国专利
:CN1274083A
,2000-11-22
[2]
介电常数的测量方法
[P].
高倩
论文数:
0
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
高倩
;
杨涛
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
杨涛
.
中国专利
:CN120914125A
,2025-11-07
[3]
薄膜介电常数测量结构及其测量方法
[P].
汪国军
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
汪国军
.
中国专利
:CN119757879A
,2025-04-04
[4]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
论文数:
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486A
,2025-10-28
[5]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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0
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486B
,2025-12-23
[6]
介电常数测量方法及装置
[P].
郭富祥
论文数:
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0
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0
郭富祥
.
中国专利
:CN114264884A
,2022-04-01
[7]
遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板
[P].
郑风云
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郑风云
;
徐阳
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徐阳
;
陈建伦
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0
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0
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陈建伦
;
刘力明
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刘力明
;
雷国奖
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0
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雷国奖
.
中国专利
:CN111060751A
,2020-04-24
[8]
冻土介电常数测量夹具及测量方法
[P].
赵少杰
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0
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0
赵少杰
;
张立新
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0
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0
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张立新
.
中国专利
:CN101666831A
,2010-03-10
[9]
介电常数的测量方法和系统
[P].
王海彬
论文数:
0
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0
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0
王海彬
.
中国专利
:CN111366790A
,2020-07-03
[10]
低介电常数材料的测量方法
[P].
沈千万
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0
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0
沈千万
.
中国专利
:CN100477144C
,2007-07-04
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