介电常数的测量方法和系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010357361.7
申请日
2020-04-29
公开(公告)号
CN111366790A
公开(公告)日
2020-07-03
发明(设计)人
王海彬
申请人
申请人地址
266000 山东省青岛市黄岛区滨海街道办事处山川路1号
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481
代理人
刘洁;李雪鹃
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
介电常数的测量方法 [P]. 
高倩 ;
杨涛 .
中国专利 :CN120914125A ,2025-11-07
[2]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486A ,2025-10-28
[3]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486B ,2025-12-23
[4]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法 [P]. 
卢永春 .
中国专利 :CN108872713B ,2018-11-23
[5]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法 [P]. 
卢永春 .
中国专利 :CN108490270B ,2018-09-04
[6]
低介电常数材料的测量方法 [P]. 
沈千万 .
中国专利 :CN100477144C ,2007-07-04
[7]
低温固体介电常数测量方法 [P]. 
徐高卫 ;
周全 ;
任洁 ;
谢晓明 .
中国专利 :CN113406397B ,2021-09-17
[8]
介电常数测量方法及装置 [P]. 
郭富祥 .
中国专利 :CN114264884A ,2022-04-01
[9]
薄膜局部介电常数测量方法、系统和存储介质 [P]. 
罗永震 ;
丁喜冬 ;
粟涛 ;
陈弟虎 .
中国专利 :CN112198370A ,2021-01-08
[10]
遮光层介电常数测量方法及介电常数检测面板 [P]. 
郑风云 ;
徐阳 ;
陈建伦 ;
刘力明 ;
雷国奖 .
中国专利 :CN111060751A ,2020-04-24