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液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201810710416.0
申请日
:
2018-07-02
公开(公告)号
:
CN108490270B
公开(公告)日
:
2018-09-04
发明(设计)人
:
卢永春
申请人
:
申请人地址
:
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
代理机构
:
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274
代理人
:
胡萌
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-09-28
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20180702
2018-09-04
公开
公开
2020-01-24
授权
授权
共 50 条
[1]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法
[P].
卢永春
论文数:
0
引用数:
0
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0
卢永春
.
中国专利
:CN108872713B
,2018-11-23
[2]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486A
,2025-10-28
[3]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法
[P].
玉虓
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
玉虓
;
何宇祺
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
何宇祺
;
陈冰
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
陈冰
;
长康雄
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
长康雄
;
韩根全
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机构:
西安电子科技大学杭州研究院
西安电子科技大学杭州研究院
韩根全
.
中国专利
:CN120847486B
,2025-12-23
[4]
介电常数的测量方法
[P].
高倩
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
高倩
;
杨涛
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机构:
芯恩(青岛)集成电路有限公司
芯恩(青岛)集成电路有限公司
杨涛
.
中国专利
:CN120914125A
,2025-11-07
[5]
介电常数的测量方法和系统
[P].
王海彬
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0
王海彬
.
中国专利
:CN111366790A
,2020-07-03
[6]
低损耗介质介电常数测量装置及测量方法
[P].
孟治国
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孟治国
;
陈圣波
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陈圣波
;
赵凯
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赵凯
;
郑兴明
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郑兴明
;
姜涛
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姜涛
;
王景然
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王景然
.
中国专利
:CN102135573A
,2011-07-27
[7]
变温介电常数精密测量装置及测量方法
[P].
戈加震
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0
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戈加震
;
熊仁根
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0
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0
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0
熊仁根
.
中国专利
:CN109164303A
,2019-01-08
[8]
基于SRR的复介电常数测量装置及测量方法
[P].
董晶
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0
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董晶
;
申发中
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申发中
;
皇甫江涛
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皇甫江涛
;
冉立新
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冉立新
.
中国专利
:CN103675466A
,2014-03-26
[9]
介电常数测量方法及装置
[P].
郭富祥
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0
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0
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0
郭富祥
.
中国专利
:CN114264884A
,2022-04-01
[10]
低介电常数材料的测量方法
[P].
沈千万
论文数:
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0
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0
沈千万
.
中国专利
:CN100477144C
,2007-07-04
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