液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201810710416.0
申请日
2018-07-02
公开(公告)号
CN108490270B
公开(公告)日
2018-09-04
发明(设计)人
卢永春
申请人
申请人地址
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274
代理人
胡萌
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
液晶介电常数的测量装置、测量系统、测量方法 [P]. 
卢永春 .
中国专利 :CN108872713B ,2018-11-23
[2]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486A ,2025-10-28
[3]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486B ,2025-12-23
[4]
介电常数的测量方法 [P]. 
高倩 ;
杨涛 .
中国专利 :CN120914125A ,2025-11-07
[5]
介电常数的测量方法和系统 [P]. 
王海彬 .
中国专利 :CN111366790A ,2020-07-03
[6]
低损耗介质介电常数测量装置及测量方法 [P]. 
孟治国 ;
陈圣波 ;
赵凯 ;
郑兴明 ;
姜涛 ;
王景然 .
中国专利 :CN102135573A ,2011-07-27
[7]
变温介电常数精密测量装置及测量方法 [P]. 
戈加震 ;
熊仁根 .
中国专利 :CN109164303A ,2019-01-08
[8]
基于SRR的复介电常数测量装置及测量方法 [P]. 
董晶 ;
申发中 ;
皇甫江涛 ;
冉立新 .
中国专利 :CN103675466A ,2014-03-26
[9]
介电常数测量方法及装置 [P]. 
郭富祥 .
中国专利 :CN114264884A ,2022-04-01
[10]
低介电常数材料的测量方法 [P]. 
沈千万 .
中国专利 :CN100477144C ,2007-07-04