薄膜局部介电常数测量方法、系统和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010917292.0
申请日
2020-09-03
公开(公告)号
CN112198370A
公开(公告)日
2021-01-08
发明(设计)人
罗永震 丁喜冬 粟涛 陈弟虎
申请人
申请人地址
510275 广东省广州市海珠区新港西路135号中山大学南校区
IPC主分类号
G01R2726
IPC分类号
代理机构
广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205
代理人
常柯阳
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
介电常数的测量方法和系统 [P]. 
王海彬 .
中国专利 :CN111366790A ,2020-07-03
[2]
薄膜介电常数测量结构及其测量方法 [P]. 
汪国军 .
中国专利 :CN119757879A ,2025-04-04
[3]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486A ,2025-10-28
[4]
一种介电常数测量系统及介电常数测量方法 [P]. 
玉虓 ;
何宇祺 ;
陈冰 ;
长康雄 ;
韩根全 .
中国专利 :CN120847486B ,2025-12-23
[5]
介电常数的测量方法 [P]. 
高倩 ;
杨涛 .
中国专利 :CN120914125A ,2025-11-07
[6]
一种薄膜介质介电常数无损反射测量方法 [P]. 
李路同 ;
杨顺平 ;
刘秀利 .
中国专利 :CN115236408B ,2024-11-26
[7]
材料介电常数的测量方法和装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王敏 ;
王扶林 ;
孙庆胤 .
中国专利 :CN118759267A ,2024-10-11
[8]
一种微波介电常数的测量方法、系统、设备及存储介质 [P]. 
王勇 ;
郭紫明 ;
杨少青 .
中国专利 :CN119574981A ,2025-03-07
[9]
固体电介质复介电常数测量方法 [P]. 
梁昌洪 ;
郑家骏 .
中国专利 :CN1274083A ,2000-11-22
[10]
低温固体介电常数测量方法 [P]. 
徐高卫 ;
周全 ;
任洁 ;
谢晓明 .
中国专利 :CN113406397B ,2021-09-17